半导体图像缺陷识别方法、装置、计算机设备和存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111102026.3

申请日：

2021-09-18

公开(公告)号：

CN114119460A

公开(公告)日：

2022-03-01

发明(设计)人：

曾锃李扬帆陈岑邹骁锋

申请人：

申请人地址：

200000 上海市嘉定工业区叶城路912号J7134室

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T711 G06K962 G06N304 G06N308

代理机构：

广州华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

成亚婷

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-03-18	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20210918
2022-03-01	公开	公开

共 50 条

[1]

半导体图像缺陷识别方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

曾锃 ;

李扬帆 ;

陈岑 ;

邹骁锋 .

中国专利 :CN114119460B ,2024-07-26

[2]

半导体图像处理方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

曾锃 ;

邹骁锋 ;

陈岑 ;

李扬帆 .

中国专利 :CN113870208A ,2021-12-31

[3]

缺陷识别方法、装置、计算机设备和可读存储介质 [P].

朱冰倩 ;

蔡卓骏 ;

汤清华 ;

王咸斌 ;

江佳佳 ;

林全郴 ;

周锐烨 ;

黄昶翰 ;

吴秋昊 ;

高哲奇 .

中国专利 :CN118887200A ,2024-11-01

[4]

缺陷识别方法、装置、计算机设备和可读存储介质 [P].

朱冰倩 ;

蔡卓骏 ;

汤清华 ;

王咸斌 ;

江佳佳 ;

林全郴 ;

周锐烨 ;

黄昶翰 ;

吴秋昊 ;

高哲奇 .

中国专利 :CN118887200B ,2025-06-24

[5]

半导体瑕疵识别方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

彭泽钜 ;

彭泽慧 ;

杨灵 ;

阙士芯 ;

廖韵萱 ;

刘羿晟 .

中国专利 :CN113743447A ,2021-12-03

[6]

半导体瑕疵识别方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

彭泽钜 ;

彭泽慧 ;

杨灵 ;

阙士芯 ;

廖韵萱 ;

刘羿晟 .

中国专利 :CN113743447B ,2024-05-17

[7]

图像识别方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

陈丽娟 ;

谢达荣 ;

侯利杰 .

中国专利 :CN110569769A ,2019-12-13

[8]

缺陷分类识别方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

陶显 ;

刘希龙 ;

顾庆毅 .

中国专利 :CN109583489A ,2019-04-05

[9]

缺陷识别方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

申望 ;

纪哲夫 ;

罗致远 ;

钟士朝 ;

谢阳阳 ;

罗红涛 .

中国专利 :CN118196492A ,2024-06-14

[10]

图像颜色识别方法、计算机设备及存储介质 [P].

单立波 .

中国专利 :CN117011393B ,2025-03-28

← 1 2 3 4 5 →