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一种集成电路芯片及其阻抗校准方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201480001177.1
申请日：
2014-04-01
公开(公告)号：
CN105453435B
公开(公告)日：
2016-03-30
发明(设计)人：
麦日锋
申请人：
申请人地址：
100083 北京市海淀区学院路30号天工大厦B座20层
IPC主分类号：
H03K190175
IPC分类号：
H03H1128
代理机构：
北京亿腾知识产权代理事务所(普通合伙) 11309
代理人：
陈霁
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2016-03-30 公开 公开
2016-04-27 实质审查的生效 实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101657713773 IPC(主分类):H03K 19/0175 专利申请号:2014800011771 申请日:20140401
2020-05-05 授权 授权
共 50 条
[1]
编码器校准电路、校准方法及集成电路芯片 [P]. 
黄林奎 ;
江泽新 ;
梅正茂 .
中国专利 :CN120074463A ,2025-05-30
[2]
编码器校准电路、校准方法及集成电路芯片 [P]. 
黄林奎 ;
江泽新 ;
梅正茂 .
中国专利 :CN120074463B ,2025-11-28
[3]
一种集成电路芯片阻抗检测装置 [P]. 
杨德朝 .
中国专利 :CN221667912U ,2024-09-06
[4]
输出阻抗校准方法、电路及集成电路产品 [P]. 
耿嘉辉 ;
赵建中 .
中国专利 :CN120801993A ,2025-10-17
[5]
输出阻抗校准方法、电路及集成电路产品 [P]. 
耿嘉辉 ;
赵建中 .
中国专利 :CN120801993B ,2025-12-09
[6]
一种集成电路芯片和集成电路 [P]. 
何孝勇 .
中国专利 :CN215578502U ,2022-01-18
[7]
控制电路及其控制方法、集成电路芯片 [P]. 
黄宇 ;
张威威 .
中国专利 :CN116157694B ,2025-09-12
[8]
集成电路芯片及其测试方法 [P]. 
A·加蒂克 ;
P·奈伊 ;
L·帕斯泰尔 ;
J·范霍恩 ;
P·S·祖霍斯基 ;
S·F·奥克兰 .
中国专利 :CN100337385C ,2005-12-28
[9]
集成电路芯片及其制造方法 [P]. 
S·D·马里亚尼 ;
E·皮兹 ;
D·多里亚 .
中国专利 :CN115701653A ,2023-02-10
[10]
集成电路芯片及其检查方法 [P]. 
江伟山 .
中国专利 :CN109144024A ,2019-01-04
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