用于缺陷分析的计算机实现的方法、评估缺陷出现的可能性的计算机实现的方法、用于缺陷分析的设备、计算机程序产品和智能缺陷分析系统

被引:0
申请号
CN202080003659.6
申请日
2020-12-03
公开(公告)号
CN114916237A
公开(公告)日
2022-08-16
发明(设计)人
柴栋 兰天 吴昊晗 汤玥 沈国梁 袁菲
申请人
申请人地址
100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号
IPC主分类号
G06F30398
IPC分类号
G01R3128
代理机构
北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112
代理人
姜春咸;冯建基
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
用于缺陷分析的计算机实现的方法、用于缺陷分析的设备、计算机程序产品和智能缺陷分析系统 [P]. 
王海金 ;
曾建风 .
中国专利 :CN114930385A ,2022-08-19
[2]
用于缺陷分析的计算机实现的方法、用于缺陷分析的设备、计算机存储介质和缺陷分析系统 [P]. 
王海金 ;
曾建风 .
中国专利 :CN114930385B ,2025-07-18
[3]
数据管理平台、智能缺陷分析系统、智能缺陷分析方法、计算机程序产品和用于缺陷分析的方法 [P]. 
袁菲 ;
王洪 ;
吴建民 ;
沈国梁 ;
兰天 ;
汤玥 ;
吴昊晗 ;
曾颖黎 ;
王建宙 ;
白冠纯 .
中国专利 :CN114868092A ,2022-08-05
[4]
用于数据分析的计算机实现的方法、计算机程序产品和系统 [P]. 
奥利弗·克洛雷克 .
:CN115769059B ,2024-05-14
[5]
用于数据分析的计算机实现的方法、计算机程序产品以及系统 [P]. 
里卡德·舍格伦 ;
约翰·特利格 .
中国专利 :CN112639834A ,2021-04-09
[6]
用于数据分析的计算机实现的方法、计算机程序产品以及系统 [P]. 
里卡德·舍格伦 ;
约翰·特利格 .
:CN112639834B ,2024-08-16
[7]
用于细胞图像的分析的计算机实现的方法、计算机程序产品以及系统 [P]. 
里卡德·舍格伦 ;
约翰·特利格 .
中国专利 :CN112655003A ,2021-04-13
[8]
用于细胞图像的分析的计算机实现的方法、计算机程序产品以及系统 [P]. 
里卡德·舍格伦 ;
约翰·特利格 .
:CN112655003B ,2025-03-14
[9]
数据管理平台、缺陷分析系统、缺陷分析方法、计算机存储介质和用于缺陷分析的方法 [P]. 
袁菲 ;
王洪 ;
吴建民 ;
沈国梁 ;
兰天 ;
汤玥 ;
吴昊晗 ;
曾颖黎 ;
王建宙 ;
白冠纯 .
中国专利 :CN114868092B ,2024-07-02
[10]
用于执行缺陷相关功能的计算机实现的方法 [P]. 
M·迪什纳 ;
C·W·李 ;
S·麦考利 ;
P·休特 ;
D·王 .
中国专利 :CN101238346A ,2008-08-06