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一种激光粒度仪以及激光粒度测试系统
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202120793634.2
申请日：
2021-04-17
公开(公告)号：
CN215812268U
公开(公告)日：
2022-02-11
发明(设计)人：
华平壤
张绘平
申请人：
申请人地址：
300000 天津市滨海新区天津经济技术开发区黄海路276号泰达中小企业园2号楼602
IPC主分类号：
G01N1502
IPC分类号：
代理机构：
代理人：
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-02-11 | 授权 | 授权 |