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基于X射线阵列组合折射透镜的微束X射线荧光分析系统
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201820583889.4
申请日：
2018-04-23
公开(公告)号：
CN208188021U
公开(公告)日：
2018-12-04
发明(设计)人：
乐孜纯
董文
申请人：
申请人地址：
310014 浙江省杭州市下城区朝晖六区潮王路18号
IPC主分类号：
G01N23223
IPC分类号：
代理机构：
杭州斯可睿专利事务所有限公司 33241
代理人：
王利强
法律状态：
避免重复授权放弃专利权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2020-06-30 | 避免重复授权放弃专利权 | 避免重复授予专利权 IPC(主分类):G01N 23/223 申请日:20180423 授权公告日:20181204 放弃生效日:20200630 |
| 2018-12-04 | 授权 | 授权 |