一种高纯气体中微量杂质分析的气相色谱检测系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202023119579.3

申请日：

2020-12-18

公开(公告)号：

CN213957266U

公开(公告)日：

2021-08-13

发明(设计)人：

闫云段亚林朱伶露杜新利吴晗韩述宇张素静

申请人：

申请人地址：

453731 河南省新乡市经济开发区青龙路

IPC主分类号：

G01N3020

IPC分类号：

G01N3006 G01N3064

代理机构：

郑州隆盛专利代理事务所(普通合伙) 41143

代理人：

崔伟;何强

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-08-13	授权	授权

共 50 条

[1]

超高纯气体中微量杂质分析的气相色谱检测系统 [P].

李聪 .

中国专利 :CN202548108U ,2012-11-21

[2]

超高纯气体中微量杂质分析的气相色谱检测系统及方法 [P].

李聪 .

中国专利 :CN102628846A ,2012-08-08

[3]

一种高纯二氧化硫气体中微量杂质分析的气相色谱检测系统 [P].

李莎莎 ;

王玉欠 ;

王晓杰 ;

刘敬谦 ;

火红娟 ;

杨成明 ;

林春丽 .

中国专利 :CN213957263U ,2021-08-13

[4]

用于分析丙烯中烃类杂质及微量气体的气相色谱检测系统 [P].

周广斌 ;

郑哲 ;

王东富 ;

赵园 ;

陈腾 .

中国专利 :CN212514443U ,2021-02-09

[5]

一种高纯氪中微量杂质的气相色谱分析系统 [P].

闫红伟 ;

戚芮甲 ;

李莎莎 ;

张秀蕊 ;

刘莉芳 ;

周沛沛 ;

李行 ;

张子阳 .

中国专利 :CN222212696U ,2024-12-20

[6]

用于高纯锗烷气中微量杂质分析的氦离子化气相色谱仪 [P].

庄鸿涛 ;

郁光 ;

方华 .

中国专利 :CN103675140A ,2014-03-26

[7]

用于高纯锗烷气中微量杂质分析的氦离子化气相色谱仪 [P].

庄鸿涛 ;

郁光 ;

方华 .

中国专利 :CN203672844U ,2014-06-25

[8]

用于氙气中微量杂质分析的气相色谱仪 [P].

刘汉兵 ;

万芳 ;

查玲 ;

韩曦 ;

杨艳 ;

程效明 ;

孙超 ;

郁光 ;

方华 .

中国专利 :CN115524426A ,2022-12-27

[9]

一种高纯一氧化碳气体中微量杂质的气相色谱分析系统 [P].

毛玉凤 ;

戚芮甲 ;

边桢尚 ;

王燕冉 ;

蒋珂珂 ;

周燕娜 ;

段辰晖 .

中国专利 :CN213957262U ,2021-08-13

[10]

用于氙气中微量杂质分析的气相色谱仪 [P].

刘汉兵 ;

万芳 ;

查玲 ;

韩曦 ;

杨艳 ;

程效明 ;

孙超 ;

郁光 ;

方华 .

中国专利 :CN115524426B ,2024-10-01

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