芯片验证系统、方法及存储介质

被引：0

申请号：

CN202210113110.3

申请日：

2022-01-29

公开(公告)号：

CN114444422A

公开(公告)日：

2022-05-06

发明(设计)人：

连络侯化成徐宁仪

申请人：

申请人地址：

200235 上海市徐汇区永嘉路698号518室

IPC主分类号：

G06F3033

IPC分类号：

G06F1328 G06F1578

代理机构：

北京中知恒瑞知识产权代理事务所(普通合伙) 11889

代理人：

袁忠林

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-05-06	公开	公开
2022-05-24	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 30/33 申请日:20220129

共 50 条

[1]

芯片验证系统、方法及存储介质 [P].

连络 ;

侯化成 ;

徐宁仪 .

中国专利 :CN114444422B ,2025-09-16

[2]

芯片验证系统、芯片验证方法、终端及存储介质 [P].

刘君 .

中国专利 :CN111983429A ,2020-11-24

[3]

芯片测试方法、验证系统及存储介质 [P].

夏一民 ;

徐雪刚 ;

罗恒 ;

刘蓬侠 ;

王磊 ;

龚国辉 ;

张晓明 .

中国专利 :CN111045880A ,2020-04-21

[4]

芯片验证方法、芯片验证系统、电子设备及存储介质 [P].

杜玉欣 ;

金鹏 ;

李壮壮 ;

王家耀 ;

宋骁雄 ;

王黎元 ;

张敏 ;

李男 ;

王大鹏 ;

胡臻平 ;

刘婧迪 .

中国专利 :CN118839661A ,2024-10-25

[5]

AI芯片验证系统、方法、设备及存储介质 [P].

侯化成 ;

卜凡伟 ;

蒋科 ;

其他发明人请求不公开姓名 .

中国专利 :CN113742202A ,2021-12-03

[6]

AI芯片验证系统、方法、设备及存储介质 [P].

侯化成 ;

卜凡伟 ;

蒋科 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN113742202B ,2025-02-25

[7]

芯片验证方法、装置及存储介质 [P].

周子超 .

中国专利 :CN111579959A ,2020-08-25

[8]

芯片验证方法、系统、设备及存储介质 [P].

蔡文倩 ;

张勇 ;

温长清 .

中国专利 :CN113705140B ,2024-07-30

[9]

芯片验证方法、系统、设备及存储介质 [P].

蔡文倩 ;

张勇 ;

温长清 .

中国专利 :CN113705140A ,2021-11-26

[10]

芯片验证方法、系统、设备及存储介质 [P].

谭黎敏 ;

李明慧 ;

宋捷 .

中国专利 :CN114139475A ,2022-03-04

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