高压信号源、介电响应测试设备、测试系统及测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011540053.4

申请日：

2020-12-23

公开(公告)号：

CN112798908A

公开(公告)日：

2021-05-14

发明(设计)人：

梁兆杰李艳刘旭明田杰陈硕张大宁

申请人：

申请人地址：

518001 广东省深圳市罗湖区深南东路4020号电力调度通信大楼

IPC主分类号：

G01R3112

IPC分类号：

G01R3114 G01R2726

代理机构：

广州华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

方高明

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-05-14	公开	公开
2021-06-01	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/12 申请日:20201223

共 50 条

[1]

信号源测试设备 [P].

王晓峰 ;

孔飞 .

中国专利 :CN218295015U ,2023-01-13

[2]

信号源和测试系统 [P].

程晨 ;

刘洪泉 ;

谢勇 .

中国专利 :CN212572522U ,2021-02-19

[3]

信号源和测试系统 [P].

程晨 ;

刘洪泉 ;

谢勇 .

中国专利 :CN113824454A ,2021-12-21

[4]

信号源和测试系统 [P].

程晨 ;

刘洪泉 ;

谢勇 .

中国专利 :CN113824454B ,2025-05-06

[5]

用于测试速度传感器的测试系统及交流信号源 [P].

王德魁 .

中国专利 :CN206132805U ,2017-04-26

[6]

介电响应测试方法、系统及存储介质 [P].

梁兆杰 ;

田杰 ;

李艳 ;

张大宁 .

中国专利 :CN113740674A ,2021-12-03

[7]

介电响应测试方法、系统及存储介质 [P].

梁兆杰 ;

田杰 ;

李艳 ;

张大宁 .

中国专利 :CN113740674B ,2024-01-02

[8]

频域介电响应测试的温度校正设备及测试设备 [P].

秦少瑞 ;

张大宁 ;

牛朝滨 ;

丁国成 ;

朱太云 ;

秦金飞 ;

宋东波 ;

吴兴旺 ;

尹睿涵 ;

张晨晨 .

中国专利 :CN207662967U ,2018-07-27

[9]

测试设备、信号测试方法以及测试系统 [P].

吴坤阳 .

中国专利 :CN114564343A ,2022-05-31

[10]

基于射频开关矩阵的信号源测试系统及方法 [P].

白文迁 ;

熊健翔 .

中国专利 :CN104601254A ,2015-05-06

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