用于检测芯片的分析装置和分析系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202020715235.X

申请日：

2020-04-30

公开(公告)号：

CN212560194U

公开(公告)日：

2021-02-19

发明(设计)人：

侯孟军吴琼王友学耿凯刘祝凯于静

申请人：

申请人地址：

100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号

IPC主分类号：

C12M100

IPC分类号：

C12M142 C12M136

代理机构：

北京市柳沈律师事务所 11105

代理人：

彭久云

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-02-19	授权	授权

共 50 条

[1]

用于检测芯片的分析装置及其操作方法、分析系统 [P].

侯孟军 ;

吴琼 ;

王友学 ;

耿凯 ;

刘祝凯 ;

于静 .

中国专利 :CN113583799B ,2024-11-26

[2]

用于检测芯片的分析装置及其操作方法、分析系统 [P].

侯孟军 ;

吴琼 ;

王友学 ;

耿凯 ;

刘祝凯 ;

于静 .

中国专利 :CN113583799A ,2021-11-02

[3]

用于检测芯片的分析装置 [P].

李鸿全 .

中国专利 :CN210128989U ,2020-03-06

[4]

用于探测、检测和分析分子的光学系统和检测芯片 [P].

乔纳森·M·罗思伯格 ;

阿里·卡比里 ;

杰森·W·斯克勒 ;

布雷特·J·格亚凡思 ;

杰瑞米·拉基 ;

杰勒德·施密德 ;

保罗·E·格伦 ;

罗伦斯·C·威斯特 ;

本杰明·西普里亚尼 ;

基思·G·法夫 .

中国专利 :CN106796175A ,2017-05-31

[5]

芯片装载结构、分析装置及分析系统 [P].

侯孟军 ;

马相国 ;

耿凯 ;

吴琼 ;

王友学 ;

刘宗民 .

中国专利 :CN115735005B ,2025-07-08

[6]

用于检测流体的系统和流体分析系统 [P].

格雷戈里·L·霍尔斯特 ;

杰伊·泰勒 .

中国专利 :CN212539535U ,2021-02-12

[7]

用于控制分析装置和分析系统的方法 [P].

A·尼迈耶 ;

H·塞尔舍德 ;

K·伍尔茨 .

中国专利 :CN109803762B ,2019-05-24

[8]

用于控制分析装置和分析系统的方法 [P].

G·布鲁克曼 ;

B·本德 ;

A·贾汉帕纳 ;

A·尼迈尔 ;

H·保尔斯 ;

H·施默尔克 .

中国专利 :CN109843437A ,2019-06-04

[9]

微粒分析装置、用于微粒分析的微流体芯片和微粒分析方法 [P].

篠田昌孝 .

中国专利 :CN101738357A ,2010-06-16

[10]

分析装置和系统 [P].

水野裕介 ;

青山朋树 ;

葛西响子 ;

长冈英一 ;

村田骏介 .

中国专利 :CN208607123U ,2019-03-15

← 1 2 3 4 5 →