光谱测量系统

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专利类型
发明
申请号
CN201580064638.4
申请日
2015-12-10
公开(公告)号
CN107003232B
公开(公告)日
2017-08-01
发明(设计)人
J·蒋 M·斯科特 E·若弗里翁 A·凯布尔
申请人
申请人地址
美国新泽西州
IPC主分类号
G01N2117
IPC分类号
代理机构
广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205
代理人
郑勇
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
光谱测量系统 [P]. 
周安萌 .
中国专利 :CN214372918U ,2021-10-08
[2]
光谱测量系统 [P]. 
徐宁汉 ;
肖晓飞 ;
白本锋 ;
谭峭峰 ;
金国藩 .
中国专利 :CN103499391B ,2014-01-08
[3]
光谱测量系统 [P]. 
张文君 ;
翟保才 ;
董洪波 ;
许键 .
中国专利 :CN103424188A ,2013-12-04
[4]
光谱测量系统与光谱测量方法 [P]. 
杨富程 ;
庄凯评 .
中国专利 :CN103115677A ,2013-05-22
[5]
光谱测量采样装置及光谱测量系统 [P]. 
郑云 ;
陈东 ;
余良军 .
中国专利 :CN207937065U ,2018-10-02
[6]
光谱测量系统和方法 [P]. 
林志泉 .
中国专利 :CN1737514A ,2006-02-22
[7]
动量空间光谱测量系统 [P]. 
资剑 ;
胡松婷 ;
石磊 ;
张译文 ;
殷海玮 ;
崔靖 .
中国专利 :CN108519155B ,2018-09-11
[8]
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戴琼海 ;
高彬 ;
张晶 ;
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中国专利 :CN106841118A ,2017-06-13
[9]
显微角分辨光谱测量系统 [P]. 
张俊 ;
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[10]
显微角分辨光谱测量系统 [P]. 
陈阳杰 ;
杨甬英 ;
付艺伟 ;
林陶君 .
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