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一种高精密LCM划线测试治具
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201821806249.1
申请日：
2018-11-05
公开(公告)号：
CN209446623U
公开(公告)日：
2019-09-27
发明(设计)人：
曾华平
申请人：
申请人地址：
518106 广东省深圳市宝安区沙井街道马安山社区鞍胜路马安山33号厂房二层
IPC主分类号：
G01R104
IPC分类号：
代理机构：
代理人：
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2019-09-27 | 授权 | 授权 |