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一种高精度射频测试治具

被引：0
申请号：
CN202220056940.2
申请日：
2022-01-11
公开(公告)号：
CN216847979U
公开(公告)日：
2022-06-28
发明(设计)人：
高晶晶
申请人：
申请人地址：
314400 浙江省嘉兴市南湖区余新镇余北大街北侧2幢2层
IPC主分类号：
G01R3100
IPC分类号：
G01R104
代理机构：
浙江杭州金通专利事务所有限公司 33100
代理人：
王丽丹
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-06-28 授权 授权
共 50 条
[1]
高精度射频测试治具 [P]. 
何卫 ;
叶传鸿 ;
蒋龙彪 .
中国专利 :CN204330813U ,2015-05-13
[2]
一种高精度射频测试治具 [P]. 
石传宁 ;
邓俊 .
中国专利 :CN213210232U ,2021-05-14
[3]
一种高精度射频测试治具 [P]. 
傅依常 ;
傅玉荣 ;
黄鑫 .
中国专利 :CN208314027U ,2019-01-01
[4]
一种高精度射频测试治具 [P]. 
袁小军 .
中国专利 :CN214539884U ,2021-10-29
[5]
一种高精度测试治具 [P]. 
卢世雄 .
中国专利 :CN213875928U ,2021-08-03
[6]
一种高精度测试治具 [P]. 
余鑫 ;
王辉 .
中国专利 :CN212569041U ,2021-02-19
[7]
一种射频测试治具 [P]. 
鲍建荣 .
中国专利 :CN216144917U ,2022-03-29
[8]
高精度光电板测试治具 [P]. 
苏宝军 .
中国专利 :CN222460575U ,2025-02-11
[9]
一种高精度微型芯片测试治具 [P]. 
张本伍 ;
郗旭斌 .
中国专利 :CN213149157U ,2021-05-07
[10]
一种PCB单板高精度测试治具 [P]. 
张大辉 ;
袁成 .
中国专利 :CN220894455U ,2024-05-03
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