光学传感器和用于检测电磁辐射的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201880032651.5

申请日：

2018-05-08

公开(公告)号：

CN110678723A

公开(公告)日：

2020-01-10

发明(设计)人：

甘特·西斯

申请人：

申请人地址：

奥地利普伦斯塔滕

IPC主分类号：

G01J346

IPC分类号：

G01J351 G01N2125

代理机构：

北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413

代理人：

谢攀;刘继富

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-01-10	公开	公开
2020-02-11	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 3/46 申请日:20180508

共 50 条

[1]

检测电磁辐射的图像像素设备和传感器阵列以及检测电磁辐射的方法 [P].

I·赫尔曼 ;

C·舍林 .

中国专利 :CN103808415A ,2014-05-21

[2]

一种用于检测电磁辐射的传感器 [P].

吕文学 .

中国专利 :CN203732634U ,2014-07-23

[3]

电磁辐射传感器及其制造方法 [P].

M·利热 .

中国专利 :CN102326255B ,2012-01-18

[4]

光学传感器和操作光学传感器的方法 [P].

N·达顿 ;

J·K·莫雷 .

中国专利 :CN110686774B ,2020-01-14

[5]

光学传感器元件、热图像传感器和检测热辐射的方法 [P].

A·塔玛 .

美国专利 :CN119173743A ,2024-12-20

[6]

光学传感器、用于选择光学传感器的方法和用于光学检测的检测器 [P].

W·赫尔梅斯 ;

S·瓦鲁施 ;

S·穆勒 ;

R·赫 ;

H·贝克特尔 ;

T·阿尔腾贝克 ;

F·迪特曼 ;

B·福伊尔施泰因 ;

T·胡普福尔 ;

A·汉德瑞克 ;

R·古斯特 ;

P·P·卡莱塔 ;

R·森德 ;

H·魏因多克 ;

I·亨尼格 ;

S·古里亚诺瓦 .

中国专利 :CN113632242A ,2021-11-09

[7]

光学传感器、用于选择光学传感器的方法和用于光学检测的检测器 [P].

W·赫尔梅斯 ;

S·瓦鲁施 ;

S·穆勒 ;

R·赫 ;

H·贝克特尔 ;

T·阿尔腾贝克 ;

F·迪特曼 ;

B·福伊尔施泰因 ;

T·胡普福尔 ;

A·汉德瑞克 ;

R·古斯特 ;

P·P·卡莱塔 ;

R·森德 ;

H·魏因多克 ;

I·亨尼格 ;

S·古里亚诺瓦 .

德国专利 :CN113632242B ,2024-10-01

[8]

用于检测电磁辐射的系统 [P].

A·达维内 .

中国专利 :CN110062878A ,2019-07-26

[9]

用于电磁辐射传感器应用的前端电子电路 [P].

C·安德烈乌 ;

F·米歇尔 .

:CN117677867A ,2024-03-08

[10]

减轻来自传感器电极的电磁辐射 [P].

P.谢佩列夫 .

中国专利 :CN110244882A ,2019-09-17

← 1 2 3 4 5 →