测试方法、测试系统和计算机可读存储介质

被引:0
申请号
CN202210978814.7
申请日
2022-08-16
公开(公告)号
CN115048317B
公开(公告)日
2022-09-13
发明(设计)人
周斌 梁昭庆 杜君 白雪松 付利莉 曲胜波 刘冬梅 易玲 马兵
申请人
申请人地址
102200 北京市昌平区科技园区双营西路79号院12号楼一层
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
G06F946
代理机构
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201
代理人
邵泳城
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
测试方法、测试系统和计算机可读存储介质 [P]. 
周斌 ;
梁昭庆 ;
杜君 ;
白雪松 ;
付利莉 ;
曲胜波 ;
刘冬梅 ;
易玲 ;
马兵 .
中国专利 :CN115048256B ,2022-09-13
[2]
测试系统、测试方法和计算机可读存储介质 [P]. 
蒋溢儿 ;
蔡泽锋 .
中国专利 :CN120434147A ,2025-08-05
[3]
测试方法、测试系统及计算机可读存储介质 [P]. 
丁晓峰 ;
王超 .
中国专利 :CN110233779B ,2019-09-13
[4]
测试系统、测试方法及计算机可读存储介质 [P]. 
丁敏 ;
邹爱华 ;
张萍 ;
丁涛 .
中国专利 :CN118157778A ,2024-06-07
[5]
测试系统、测试方法及计算机可读存储介质 [P]. 
衣存宇 ;
洪申平 ;
沙宏磊 ;
沈虹 ;
韩景超 ;
刘万虎 ;
李凯 ;
魏靖 ;
董丽佳 .
中国专利 :CN112240944A ,2021-01-19
[6]
测试系统、测试方法以及计算机可读存储介质 [P]. 
张碧 .
中国专利 :CN114613421A ,2022-06-10
[7]
测试系统、方法、计算机系统和计算机可读存储介质 [P]. 
何林娜 ;
陈丹丹 ;
李军亮 .
中国专利 :CN112783757B ,2024-03-01
[8]
测试系统、方法、计算机系统和计算机可读存储介质 [P]. 
何林娜 ;
陈丹丹 ;
李军亮 .
中国专利 :CN112783757A ,2021-05-11
[9]
半导体芯片测试方法、测试系统、计算机可读存储介质 [P]. 
王树锋 ;
陈阳 .
中国专利 :CN114823402A ,2022-07-29
[10]
车辆测试系统和方法、计算机可读存储介质 [P]. 
王文俊 ;
肖柏宏 ;
王文礼 .
中国专利 :CN115452413A ,2022-12-09