精密光点测试仪

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN00220834.2

申请日：

2000-06-28

公开(公告)号：

CN2434785Y

公开(公告)日：

2001-06-13

发明(设计)人：

李晓华郑姚生杨晓伟张雄

申请人：

申请人地址：

210018江苏省南京市四牌楼二号

IPC主分类号：

H01J942

IPC分类号：

G01R3125

代理机构：

东南大学专利事务所

代理人：

沈廉;卢小宁

法律状态：

专利权的终止未缴年费专利权终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2006-08-23	专利权的终止未缴年费专利权终止	专利权的终止未缴年费专利权终止
2001-06-13	授权	授权

共 50 条

[1]

宽带精密旋光测试仪 [P].

马洪良 ;

钟敏建 ;

王春涛 ;

杨君毅 ;

郭广磊 ;

岳中岳 .

中国专利 :CN201034934Y ,2008-03-12

[2]

一种智能精密光测试仪 [P].

金海涛 .

中国专利 :CN205808549U ,2016-12-14

[3]

一种智能精密光测试仪 [P].

金海涛 .

中国专利 :CN106813775A ,2017-06-09

[4]

一种电机短路测试仪 [P].

祝志斌 ;

祝俞毅 .

中国专利 :CN204166074U ,2015-02-18

[5]

光分路器自动测试仪 [P].

周建忠 ;

张志刚 ;

余荣亮 .

中国专利 :CN205490548U ,2016-08-17

[6]

皮肤点测试仪 [P].

叶青华 .

中国专利 :CN202604826U ,2012-12-19

[7]

接地电阻测试仪 [P].

谢忠恒 .

中国专利 :CN211348429U ,2020-08-25

[8]

集成电路测试仪 [P].

阎捷 ;

高文焕 ;

徐振英 ;

张尊侨 ;

金平 ;

田淑珍 ;

刘艳 ;

任艳频 ;

侯素芳 ;

任勇 .

中国专利 :CN201035124Y ,2008-03-12

[9]

微力学测试仪及其测试方法 [P].

张泰华 ;

郇勇 ;

杨业敏 .

中国专利 :CN1752734A ,2006-03-29

[10]

密度测试仪 [P].

陈雪松 ;

曾波 ;

陈世超 ;

党正强 .

中国专利 :CN201096696Y ,2008-08-06

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