校准方法、校准装置及具备该校准装置的校准系统

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专利类型
发明
申请号
CN200980000577.X
申请日
2009-05-19
公开(公告)号
CN101755190B
公开(公告)日
2010-06-23
发明(设计)人
大山一朗 今村典广
申请人
申请人地址
日本大阪府
IPC主分类号
G01C300
IPC分类号
H04N5232 G01C306 H04N1302
代理机构
永新专利商标代理有限公司 72002
代理人
许玉顺;胡建新
法律状态
专利权的终止
国省代码
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共 50 条
[1]
校准系统、校准方法及校准装置 [P]. 
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[2]
校准片、校准装置及校准系统 [P]. 
辛自强 ;
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魏林鹏 ;
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[3]
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[4]
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[5]
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[6]
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[7]
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[8]
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[9]
一种校准方法、待校准设备、校准装置及校准系统 [P]. 
严欢 ;
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[10]
校准系统及校准方法 [P]. 
A·坦 .
中国专利 :CN1947149B ,2007-04-11