一种高精度测量浊度的光路结构

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201520738940.0
申请日
2015-09-22
公开(公告)号
CN205139008U
公开(公告)日
2016-04-06
发明(设计)人
阮小东 陈云龙 边宝丽
申请人
申请人地址
100076 北京市大兴区西红门镇金业大街10号
IPC主分类号
G01N2149
IPC分类号
代理机构
北京天悦专利代理事务所(普通合伙) 11311
代理人
田明;任晓航
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种测量高量程浊度的光路结构 [P]. 
阮小东 ;
陈云龙 ;
边宝丽 ;
李蔚 ;
刘少飞 .
中国专利 :CN208334194U ,2019-01-04
[2]
一种基于点激光的高精度测量装置 [P]. 
程序贤 ;
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[3]
一种高精度表面散射式浊度仪 [P]. 
徐金兰 ;
郑天麒 ;
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[4]
一种高精度测量结构竖向变形的装置 [P]. 
石开荣 ;
许洁槟 ;
潘文智 ;
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[5]
新型在线高精度测量浊度与总有机碳装置 [P]. 
陈众励 ;
陈杰甫 ;
陈付志 ;
朱浩楠 ;
陈艺通 ;
马立果 ;
张帆 ;
胡洪 .
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[6]
一种散射法在线测量液体浊度的光路结构 [P]. 
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[7]
一种屋顶钢架结构高精度测量装置 [P]. 
梁东景 ;
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莫凡 ;
林忠和 ;
程海林 ;
莫茜 ;
高宗立 ;
彭伯伦 ;
林细桃 ;
陆仕颖 ;
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[8]
一种高精度测量设备 [P]. 
徐磊 .
中国专利 :CN209656015U ,2019-11-19
[9]
一种高精度测量尺 [P]. 
贠虎臣 ;
任从植 ;
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[10]
一种高精度测量装置 [P]. 
刘成钊 ;
董曦 .
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