SF6气体密度继电器校验仪及校验流程

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200710036302.4

申请日：

2007-01-09

公开(公告)号：

CN101221217A

公开(公告)日：

2008-07-16

发明(设计)人：

苏丽芳

申请人：

申请人地址：

201110上海市漕宝路1508弄76号601室

IPC主分类号：

G01R31327

IPC分类号：

G01N900

代理机构：

上海天协和诚知识产权代理事务所

代理人：

张恒康

法律状态：

发明专利申请公布后的视为撤回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-10-12	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1603 号牌文件序号:101196307059 IPC(主分类):G01R 31/327 专利申请号:2007100363024 公开日:20080716
2008-07-16	公开	公开
2010-01-27	实质审查的生效	实质审查的生效

共 50 条

[1]

SF6气体密度继电器校验仪 [P].

苏丽芳 .

中国专利 :CN201004042Y ,2008-01-09

[2]

SF6气体密度继电器校验仪 [P].

张灿利 ;

郝尚平 .

中国专利 :CN200986521Y ,2007-12-05

[3]

SF6气体密度继电器校验仪 [P].

吴伟 ;

杨文举 .

中国专利 :CN102103016A ,2011-06-22

[4]

SF6密度继电器校验仪 [P].

袁小强 .

中国专利 :CN210665956U ,2020-06-02

[5]

SF6气体密度继电器校验仪 [P].

薛超 .

中国专利 :CN209247987U ,2019-08-13

[6]

SF6气体密度继电器校验仪 [P].

穆毅 .

中国专利 :CN109839588A ,2019-06-04

[7]

SF6气体密度继电器校验仪 [P].

蔡国清 ;

邓本辉 ;

龚钦耀 .

中国专利 :CN202453470U ,2012-09-26

[8]

SF6气体密度继电器校验仪 [P].

郭朋辉 ;

李立志 .

中国专利 :CN107677315A ,2018-02-09

[9]

一种SF6气体密度继电器校验仪 [P].

苏丽芳 .

中国专利 :CN201034901Y ,2008-03-12

[10]

一种SF6气体密度继电器校验仪 [P].

苏丽芳 .

中国专利 :CN101206169A ,2008-06-25

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