亮灯缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010269691.0

申请日：

2020-04-08

公开(公告)号：

CN111445467A

公开(公告)日：

2020-07-24

发明(设计)人：

钟国崇谭泽汉谭龙田

申请人：

申请人地址：

519070 广东省珠海市前山金鸡西路

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T770 G06K962

代理机构：

北京华夏泰和知识产权代理有限公司 11662

代理人：

杜欣

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-07-24	公开	公开

共 50 条

[1]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王晓阳 .

中国专利 :CN120833287A ,2025-10-24

[2]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈维玲 ;

戴波 ;

夏健钧 ;

严静 ;

秦祥熙 ;

陈嘉豪 .

中国专利 :CN120385688A ,2025-07-29

[3]

灯珠缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

罗卓军 ;

毕海 ;

李磊 ;

汪伟 ;

张海裕 .

中国专利 :CN121074860A ,2025-12-05

[4]

焊锡缺陷检测方法、检测装置、电子设备及存储介质 [P].

王本欣 ;

王子豪 ;

肖顶奎 .

中国专利 :CN120411109A ,2025-08-01

[5]

丝印缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李莹 ;

李翔 ;

吴航 ;

彭博 ;

尹德斌 .

中国专利 :CN120831372A ,2025-10-24

[6]

缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

汤寅航 ;

林国森 ;

张发恩 .

中国专利 :CN111784672A ,2020-10-16

[7]

涂胶缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

王谦 ;

崔磊 ;

吴立威 ;

王巍 ;

肖旭 .

中国专利 :CN113344901A ,2021-09-03

[8]

电容缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

朱焱 ;

姜浩 ;

王少军 ;

蔡权雄 ;

牛昕宇 .

中国专利 :CN112598646A ,2021-04-02

[9]

电容缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

朱焱 ;

姜浩 ;

王少军 ;

蔡权雄 ;

牛昕宇 .

中国专利 :CN112598646B ,2024-06-11

[10]

灯珠缺陷检测方法、电子设备及存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN119672013A ,2025-03-21

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