辐射检查系统

被引：0

申请号：

CN202123437499.7

申请日：

2021-12-30

公开(公告)号：

CN216979320U

公开(公告)日：

2022-07-15

发明(设计)人：

樊旭平宋全伟史俊平何远孟辉

申请人：

申请人地址：

101500 北京市密云区经济开发区园林路18号

IPC主分类号：

G01V500

IPC分类号：

G01N2304

代理机构：

中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038

代理人：

颜镝

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-07-15	授权	授权

共 50 条

[1]

辐射检查系统 [P].

樊旭平 ;

宋全伟 ;

史俊平 ;

何远 ;

孟辉 .

中国专利 :CN114152993A ,2022-03-08

[2]

辐射检查系统 [P].

樊旭平 ;

宋全伟 ;

史俊平 ;

何远 ;

孟辉 .

中国专利 :CN114152993B ,2025-10-03

[3]

辐射检查系统 [P].

于昊 ;

王伟珍 ;

李营 ;

马媛 ;

宋全伟 ;

史俊平 ;

李荐民 ;

李玉兰 ;

陈志强 ;

李元景 ;

张丽 .

中国专利 :CN108614302A ,2018-10-02

[4]

辐射检查系统 [P].

季峥 ;

刘磊 ;

迟豪杰 ;

刘必成 ;

宗春光 .

中国专利 :CN119575496A ,2025-03-07

[5]

辐射检查系统 [P].

闫雄 ;

王少锋 ;

刘铮 ;

冯志涛 ;

王春雷 .

中国专利 :CN107479103B ,2017-12-15

[6]

辐射检查系统 [P].

季峥 ;

刘磊 ;

马媛 ;

刘必成 ;

宗春光 .

中国专利 :CN119575493A ,2025-03-07

[7]

辐射检查系统 [P].

宋全伟 ;

李营 ;

夏茂辉 ;

王伟珍 ;

于昊 ;

李荐民 ;

史俊平 ;

李玉兰 ;

宗春光 ;

陈志强 ;

李元景 ;

张丽 .

中国专利 :CN108614301A ,2018-10-02

[8]

辐射检查系统 [P].

于昊 ;

王伟珍 ;

李营 ;

马媛 ;

宋全伟 ;

史俊平 ;

李荐民 ;

李玉兰 ;

陈志强 ;

李元景 ;

张丽 .

中国专利 :CN208547726U ,2019-02-26

[9]

辐射检查系统 [P].

陈志强 ;

李元景 ;

张丽 ;

宗春光 ;

刘必成 ;

党永乐 ;

王伟珍 .

中国专利 :CN119575495A ,2025-03-07

[10]

辐射检查系统 [P].

宋全伟 ;

李营 ;

夏茂辉 ;

王伟珍 ;

于昊 ;

李荐民 ;

史俊平 ;

李玉兰 ;

宗春光 ;

陈志强 ;

李元景 ;

张丽 .

中国专利 :CN208547727U ,2019-02-26

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