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金属表面损伤检测方法、系统、存储介质及电子设备
被引:0
申请号
:
CN202210043849.1
申请日
:
2022-01-14
公开(公告)号
:
CN114463283A
公开(公告)日
:
2022-05-10
发明(设计)人
:
辛蒙号
郭强
王博
林浩生
申请人
:
申请人地址
:
519000 广东省珠海市前山金鸡西路
IPC主分类号
:
G06T700
IPC分类号
:
G06V1025
G06V1044
代理机构
:
北京聿宏知识产权代理有限公司 11372
代理人
:
李爱军;陈超德
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-05-10
公开
公开
2022-05-27
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20220114
共 50 条
[1]
金属表面检测方法、系统、电子设备及存储介质
[P].
陈子阳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
天翼物联科技有限公司
天翼物联科技有限公司
陈子阳
.
中国专利
:CN119762426A
,2025-04-04
[2]
金属表面检测方法、系统、电子设备及存储介质
[P].
陈子阳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
天翼物联科技有限公司
天翼物联科技有限公司
陈子阳
.
中国专利
:CN119762426B
,2025-10-17
[3]
金属表面损伤目标检测识别方法、装置、设备及存储介质
[P].
邓中港
论文数:
0
引用数:
0
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0
邓中港
;
吴湘宁
论文数:
0
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0
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0
吴湘宁
;
李佳琪
论文数:
0
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0
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0
李佳琪
;
王稳
论文数:
0
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0
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0
王稳
;
陈苗
论文数:
0
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0
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0
陈苗
;
代刚
论文数:
0
引用数:
0
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0
代刚
;
邓玉娇
论文数:
0
引用数:
0
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0
邓玉娇
.
中国专利
:CN113538331A
,2021-10-22
[4]
金属表面缺陷的检测方法、装置、设备及存储介质
[P].
熊志红
论文数:
0
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0
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0
机构:
深圳仕上电子科技股份有限公司
深圳仕上电子科技股份有限公司
熊志红
;
朱峰
论文数:
0
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0
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0
机构:
深圳仕上电子科技股份有限公司
深圳仕上电子科技股份有限公司
朱峰
;
郑思温
论文数:
0
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0
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0
机构:
深圳仕上电子科技股份有限公司
深圳仕上电子科技股份有限公司
郑思温
.
中国专利
:CN119125301A
,2024-12-13
[5]
金属表面缺陷的检测方法、装置、设备及存储介质
[P].
熊志红
论文数:
0
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0
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0
机构:
深圳仕上电子科技股份有限公司
深圳仕上电子科技股份有限公司
熊志红
;
朱峰
论文数:
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机构:
深圳仕上电子科技股份有限公司
深圳仕上电子科技股份有限公司
朱峰
;
郑思温
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳仕上电子科技股份有限公司
深圳仕上电子科技股份有限公司
郑思温
.
中国专利
:CN119125301B
,2025-01-17
[6]
风电叶片表面损伤检测方法、装置及电子设备及存储介质
[P].
论文数:
引用数:
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机构:
高如新
;
论文数:
引用数:
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机构:
马永飞
;
论文数:
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机构:
王梅红
;
谭兴国
论文数:
0
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0
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机构:
河南理工大学
河南理工大学
谭兴国
;
王程阳
论文数:
0
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0
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0
机构:
河南理工大学
河南理工大学
王程阳
;
论文数:
引用数:
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机构:
李翔
;
凌志勇
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
河南理工大学
河南理工大学
凌志勇
.
中国专利
:CN118587167A
,2024-09-03
[7]
损伤检测方法、装置、可读存储介质及电子设备
[P].
汤淳坡
论文数:
0
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0
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0
汤淳坡
;
周龙
论文数:
0
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0
周龙
;
周亚明
论文数:
0
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0
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0
周亚明
;
吴国兴
论文数:
0
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0
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0
吴国兴
;
崔崇
论文数:
0
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0
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0
崔崇
.
中国专利
:CN115656339A
,2023-01-31
[8]
风机叶片损伤的检测方法、系统、存储介质及电子设备
[P].
唐善然
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
上海勘测设计研究院有限公司
上海勘测设计研究院有限公司
唐善然
;
戴澍
论文数:
0
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0
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机构:
上海勘测设计研究院有限公司
上海勘测设计研究院有限公司
戴澍
;
温建锋
论文数:
0
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机构:
上海勘测设计研究院有限公司
上海勘测设计研究院有限公司
温建锋
;
宋玥
论文数:
0
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机构:
上海勘测设计研究院有限公司
上海勘测设计研究院有限公司
宋玥
;
杨文宇
论文数:
0
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机构:
上海勘测设计研究院有限公司
上海勘测设计研究院有限公司
杨文宇
;
姜卫星
论文数:
0
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机构:
上海勘测设计研究院有限公司
上海勘测设计研究院有限公司
姜卫星
;
朱礼云
论文数:
0
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0
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机构:
上海勘测设计研究院有限公司
上海勘测设计研究院有限公司
朱礼云
.
中国专利
:CN118549522A
,2024-08-27
[9]
金属表面涂层色差控制方法、装置、电子设备及存储介质
[P].
郭会军
论文数:
0
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郭会军
.
中国专利
:CN114713398A
,2022-07-08
[10]
损伤检测方法、装置、电子设备及介质
[P].
赵霄鸿
论文数:
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赵霄鸿
;
刘莉红
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刘莉红
;
刘玉宇
论文数:
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0
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刘玉宇
.
中国专利
:CN111652209A
,2020-09-11
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