一种用于辉光放电质谱检测的高纯铟样品的测前处理方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201911005561.X
申请日
2019-10-22
公开(公告)号
CN110542604B
公开(公告)日
2019-12-06
发明(设计)人
杨斌 赵晋阳 徐宝强 刘大春 杨红卫 陈秀敏 郁青春 王飞 戴永年 杨佳 吴鉴 李一夫 蒋文龙 田阳 熊恒 曲涛
申请人
申请人地址
650093 云南省昆明市一二一大街文昌路68号
IPC主分类号
G01N132
IPC分类号
G01N134 G01N128 G01N2768
代理机构
昆明同聚专利代理有限公司 53214
代理人
王远同
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
用于ELEMENT GD辉光放电质谱检测的少量易碎样品的测前处理方法 [P]. 
杨斌 ;
赵晋阳 ;
徐宝强 ;
陈秀敏 ;
杨红卫 ;
吴鉴 ;
蒋文龙 ;
孔令鑫 ;
刘红武 ;
段梦平 .
中国专利 :CN114112602A ,2022-03-01
[2]
一种用于辉光放电质谱检测的钽样品前处理方法及检测方法 [P]. 
姚力军 ;
潘杰 ;
任聪聪 ;
钟伟华 .
中国专利 :CN118533597A ,2024-08-23
[3]
一种辉光放电质谱中高纯铟的制样方法 [P]. 
姚力军 ;
边逸军 ;
潘杰 ;
王学泽 ;
来兴艳 .
中国专利 :CN113237945A ,2021-08-10
[4]
一种用于辉光放电质谱的片状样品夹 [P]. 
吴景晖 ;
闻人一家 ;
缪成旭 ;
王镕垚 ;
宋彦明 .
中国专利 :CN118039445A ,2024-05-14
[5]
一种用于辉光放电质谱仪粉末样品和高纯铟片的压制装置 [P]. 
李晓旭 ;
郭莉莉 ;
黄威 ;
王丹 ;
李辉 ;
张重远 .
中国专利 :CN223727498U ,2025-12-26
[6]
一种辉光放电质谱高纯金属钒粉末的测试方法 [P]. 
翟宇鑫 ;
余琼 ;
连危洁 ;
李爽 ;
田兆永 ;
马修斯 ;
马兰 .
中国专利 :CN115901390B ,2025-12-02
[7]
一种钨镍粉末的辉光放电质谱检测方法 [P]. 
姚力军 ;
边逸军 ;
潘杰 ;
王学泽 ;
郝海天 ;
钟伟华 .
中国专利 :CN113109419A ,2021-07-13
[8]
一种辉光放电质谱检测钒锆铁合金样品的前处理方法及检测方法 [P]. 
姚力军 ;
武威 ;
钟伟华 .
中国专利 :CN119880561A ,2025-04-25
[9]
一种用于辉光放电质谱检测的针状样品的制备方法及其应用 [P]. 
谭秀珍 ;
李瑶 ;
李江霖 ;
邓育宁 ;
朱刘 .
中国专利 :CN112557496A ,2021-03-26
[10]
一种用于辉光放电质谱检测的针状样品的制备方法及其应用 [P]. 
谭秀珍 ;
李瑶 ;
李江霖 ;
邓育宁 ;
朱刘 .
中国专利 :CN112557496B ,2024-03-15