一种微纳米粒子性能参数的测量方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201510263349.9
申请日
2015-05-20
公开(公告)号
CN104880390A
公开(公告)日
2015-09-02
发明(设计)人
李皓 白鹏飞 林烈鑫 井一涵 周国富
申请人
申请人地址
510631 广东省广州市大学城华南师范大学理五栋彩色动态电子纸显示技术研究所
IPC主分类号
G01N1500
IPC分类号
代理机构
广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205
代理人
唐致明
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
微纳米单粒子阻抗谱测量芯片及测量方法 [P]. 
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[2]
热电材料性能参数测量装置及测量方法 [P]. 
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[3]
样品几何参数和性能参数测量装置及测量方法 [P]. 
崔长彩 ;
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王文琪 ;
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[4]
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余鹏 ;
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[5]
一种测量微纳米粒子悬浮散射特性的装置 [P]. 
黄雪峰 ;
余鹏 ;
李盛姬 ;
陈矗 .
中国专利 :CN114659951B ,2024-08-02
[6]
电池性能参数测量装置及其测量方法 [P]. 
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[7]
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[8]
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[9]
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张志远 ;
庞宝君 ;
汪海涛 ;
迟润强 ;
管公顺 ;
赵静 ;
张远鹏 ;
白云 ;
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[10]
一种镍微纳米粒子及其制备方法 [P]. 
周云龙 ;
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赵亚云 ;
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