一种获取器件中子单粒子效应截面的方法及装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201810847569.X
申请日
2018-07-27
公开(公告)号
CN109214049A
公开(公告)日
2019-01-15
发明(设计)人
王群勇
申请人
申请人地址
100089 北京市海淀区紫竹院路69号兵器大厦708
IPC主分类号
G06F1750
IPC分类号
G01R31265 G01R3126 G01R3100
代理机构
北京路浩知识产权代理有限公司 11002
代理人
王莹;吴欢燕
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
获取大气中子单粒子效应敏感器件敏感截面的方法及装置 [P]. 
王群勇 ;
陈冬梅 ;
阳辉 .
中国专利 :CN105676103A ,2016-06-15
[2]
利用BGR获取中子单粒子效应器件敏感截面的方法及装置 [P]. 
王群勇 ;
陈冬梅 ;
陈宇 .
中国专利 :CN105676016A ,2016-06-15
[3]
利用FOM获取中子单粒子效应器件敏感截面的方法及装置 [P]. 
王群勇 ;
陈冬梅 ;
阳辉 .
中国专利 :CN105676102A ,2016-06-15
[4]
利用试验数据获取单粒子效应器件敏感截面的方法及装置 [P]. 
王群勇 ;
薛海红 ;
陈冬梅 ;
陈宇 .
中国专利 :CN105676017A ,2016-06-15
[5]
一种器件质子单粒子效应截面的获取方法 [P]. 
罗尹虹 ;
郭红霞 ;
张凤祁 ;
陈伟 ;
潘霄宇 .
中国专利 :CN108008289A ,2018-05-08
[6]
一种利用试验数据确定大气中子单粒子效应截面的方法 [P]. 
薛玉雄 ;
安恒 ;
杨生胜 ;
王小军 ;
张晨光 ;
苗育君 ;
王光毅 .
中国专利 :CN109470947A ,2019-03-15
[7]
电子器件大气中子单粒子效应预测方法及装置 [P]. 
张战刚 ;
雷志锋 ;
师谦 ;
岳龙 ;
黄云 ;
恩云飞 .
中国专利 :CN106650039A ,2017-05-10
[8]
中子单粒子效应故障率的评估方法及评估装置 [P]. 
王群勇 .
中国专利 :CN109145395A ,2019-01-04
[9]
一种预测器件重离子单粒子效应截面曲线的方法 [P]. 
罗尹虹 ;
陈兆群 ;
陈伟 ;
张凤祁 ;
王坦 ;
丁李利 ;
赵雯 .
中国专利 :CN113109860A ,2021-07-13
[10]
SRAM中子单粒子效应试验方法 [P]. 
王群勇 ;
陈冬梅 ;
阳辉 ;
陈宇 ;
李明 .
中国专利 :CN105590652A ,2016-05-18