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一种芯片调试代理装置及芯片调试方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202110022995.1
申请日
:
2021-01-08
公开(公告)号
:
CN112631851A
公开(公告)日
:
2021-04-09
发明(设计)人
:
侯建桥
申请人
:
申请人地址
:
100176 北京市大兴区北京经济技术开发区文化园西路8号院1号楼5层612-1A
IPC主分类号
:
G06F1126
IPC分类号
:
代理机构
:
北京格允知识产权代理有限公司 11609
代理人
:
张沫
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-04-27
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/26 申请日:20210108
2021-04-09
公开
公开
共 50 条
[1]
一种芯片调试代理装置及芯片调试方法
[P].
侯建桥
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京集睿致远科技有限公司
北京集睿致远科技有限公司
侯建桥
.
中国专利
:CN112631851B
,2024-07-16
[2]
一种芯片调试方法、芯片及芯片调试系统
[P].
不公告发明人
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
不公告发明人
.
中国专利
:CN114185764A
,2022-03-15
[3]
多芯片调试方法及多芯片调试装置
[P].
吴候
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吴候
;
吴滔
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吴滔
.
中国专利
:CN112231161A
,2021-01-15
[4]
多芯片调试方法及多芯片调试装置
[P].
吴候
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海思尔芯技术股份有限公司
上海思尔芯技术股份有限公司
吴候
;
吴滔
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海思尔芯技术股份有限公司
上海思尔芯技术股份有限公司
吴滔
.
中国专利
:CN112231161B
,2024-03-19
[5]
一种芯片调试系统及芯片调试方法
[P].
张攀勇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张攀勇
.
中国专利
:CN112463509A
,2021-03-09
[6]
一种芯片调试装置、调试方法及SOC芯片系统
[P].
丁明耀
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
丁明耀
.
中国专利
:CN105808396A
,2016-07-27
[7]
一种芯片、芯片调试方法及装置、设备、介质
[P].
谢忆纯
论文数:
0
引用数:
0
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0
谢忆纯
;
马晟厚
论文数:
0
引用数:
0
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0
马晟厚
;
吴敬杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吴敬杰
;
张楠赓
论文数:
0
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0
h-index:
0
张楠赓
.
中国专利
:CN109918303B
,2019-06-21
[8]
芯片调试系统、芯片调试方法、电子控制单元及汽车
[P].
方延平
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
紫光同芯微电子有限公司
紫光同芯微电子有限公司
方延平
.
中国专利
:CN118838770A
,2024-10-25
[9]
一种芯片调试方法及装置
[P].
张国
论文数:
0
引用数:
0
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0
张国
;
许建国
论文数:
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许建国
;
姜黎
论文数:
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姜黎
;
彭鹏
论文数:
0
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0
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0
彭鹏
.
中国专利
:CN107193705B
,2017-09-22
[10]
一种芯片调试方法及装置
[P].
张超
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张超
.
中国专利
:CN110008075A
,2019-07-12
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