一种外形轮廓扫描测量装置及方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202111463212.X
申请日
2021-12-02
公开(公告)号
CN113865512A
公开(公告)日
2021-12-31
发明(设计)人
张磊 杜威 朱长彬 李雪 何江
申请人
申请人地址
100190 北京市海淀区知春路63号北京卫星制造厂51号楼9层906
IPC主分类号
G01B1124
IPC分类号
F16M1124
代理机构
北京隆源天恒知识产权代理有限公司 11473
代理人
鲍丽伟
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
一种二维外形轮廓自扫描投影测量装置 [P]. 
张新宝 .
中国专利 :CN1746619A ,2006-03-15
[2]
轮廓测量装置及轮廓测量方法 [P]. 
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杨政 ;
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杨飞田 ;
雷细芝 .
中国专利 :CN117629133A ,2024-03-01
[3]
一种折弯件外形轮廓测量装置 [P]. 
金江勇 .
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[4]
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[5]
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孙明 ;
赵善文 ;
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[6]
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[7]
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张微 ;
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[8]
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[9]
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刘履震 ;
缪捷 ;
彭士涛 ;
于迅 ;
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[10]
一种轮廓测量装置及方法 [P]. 
吴双 ;
麻成标 ;
魏玎 ;
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