一种用于电子设备测试的测试装置

被引：0

申请号：

CN202220553506.5

申请日：

2022-03-15

公开(公告)号：

CN217171958U

公开(公告)日：

2022-08-12

发明(设计)人：

骆秋梅方财华

申请人：

申请人地址：

350000 福建省福州市闽侯县上街镇科技东路12、16、18号华建大厦5#906室

IPC主分类号：

B65G1512

IPC分类号：

B65G1558 G01R102 G01R104

代理机构：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-08-12	授权	授权

共 50 条

[1]

一种用于电子设备测试的测试装置 [P].

徐文飞 ;

王东永 ;

潘伟仁 ;

王勤生 ;

陶利 .

中国专利 :CN206248738U ,2017-06-13

[2]

一种电子设备测试用的测试装置 [P].

龚健 .

中国专利 :CN216434248U ,2022-05-03

[3]

一种电子设备跌落测试装置 [P].

孙维亮 ;

李明希 .

中国专利 :CN222318386U ,2025-01-07

[4]

一种电子设备测试装置 [P].

林江城 ;

肖阿仁 ;

胡锦泉 .

中国专利 :CN223426785U ,2025-10-10

[5]

一种测试装置及电子设备测试站 [P].

岳旭东 ;

武晓龙 ;

柏皓文 .

中国专利 :CN222439620U ,2025-02-07

[6]

电子设备测试装置及电子设备 [P].

高涛 ;

丁双朋 ;

覃达开 ;

杨冰泉 ;

白浪 .

中国专利 :CN109085391A ,2018-12-25

[7]

一种电子设备用测试装置 [P].

朱文昭 ;

杨锦江 ;

马楠 ;

李植 .

中国专利 :CN217085138U ,2022-07-29

[8]

电子设备的测试装置 [P].

蒋天仁 .

中国专利 :CN2874525Y ,2007-02-28

[9]

电子设备的测试装置 [P].

常明 ;

王广西 .

中国专利 :CN206583981U ,2017-10-24

[10]

电子设备的测试装置 [P].

陈立明 ;

陈华军 ;

郭晓斌 ;

许爱东 ;

袁小凯 ;

黄文琦 ;

黄建理 ;

杜金燃 ;

卢耿城 .

中国专利 :CN205692155U ,2016-11-16

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