一种针对FPGA PLL IP核的测试系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201911244497.0

申请日：

2019-12-06

公开(公告)号：

CN111123083B

公开(公告)日：

2020-05-08

发明(设计)人：

周芝梅万勇冯晨徐浩韩圣亚黄振王飞

申请人：

申请人地址：

100031 北京市西城区西长安街86号

IPC主分类号：

G01R313177

IPC分类号：

G01R313185

代理机构：

北京安博达知识产权代理有限公司 11271

代理人：

徐国文

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-05-08	公开	公开
2022-04-29	授权	授权
2020-06-26	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/3177 申请日:20191206

共 50 条

[1]

FPGA芯片内嵌BRAM核的测试系统及方法 [P].

李圣华 ;

来金梅 ;

王健 .

中国专利 :CN106098104B ,2016-11-09

[2]

一种基于FPGA的IP核模块调试方法 [P].

张侠 ;

安佰春 ;

马旭 ;

董科 ;

程鹏 .

中国专利 :CN118940137A ,2024-11-12

[3]

一种基于FPGA的IP核模块调试方法 [P].

张侠 ;

安佰春 ;

马旭 ;

董科 ;

程鹏 .

中国专利 :CN118940137B ,2025-06-17

[4]

一种FPGA的测试系统及方法 [P].

屈粮富 ;

张大伟 ;

马慧娟 .

中国专利 :CN115033442A ,2022-09-09

[5]

FPGA的测试方法及测试系统 [P].

杨涵宇 ;

陈德林 .

中国专利 :CN112433894B ,2021-03-02

[6]

一种针对千万门级FPGA的系统级量产测试系统及方法 [P].

王婷 ;

李鑫 ;

张召 ;

张若寒 ;

宋子雄 ;

李天江 ;

王威 ;

刘然 .

中国专利 :CN120045391A ,2025-05-27

[7]

一种基于FPGA的FPGA筛选测试系统及方法 [P].

张超 ;

贾海涛 ;

赵川 .

中国专利 :CN112067978A ,2020-12-11

[8]

基于TDC的FPGA电路传输延迟测试系统和方法 [P].

来金梅 ;

石超 ;

王健 .

中国专利 :CN105842610A ,2016-08-10

[9]

一种FPGA的DCM的测试系统及方法 [P].

段美霞 ;

段爱霞 ;

段艳玲 ;

江勇 ;

杨媚 ;

黄永志 ;

姚淑霞 ;

白娟 ;

杜爱国 .

中国专利 :CN111308330A ,2020-06-19

[10]

一种FPGA高速SerDes接口的集成测试系统及方法 [P].

段美霞 ;

段爱霞 ;

江勇 ;

段艳玲 ;

白娟 ;

黄永志 ;

韩珂 .

中国专利 :CN109885434B ,2019-06-14

← 1 2 3 4 5 →