自动化测试方法、装置、计算机设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202011052092.X
申请日
2020-09-29
公开(公告)号
CN112181835A
公开(公告)日
2021-01-05
发明(设计)人
高越
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市福田区益田路5033号平安金融中心14、15、16、37、41、44、45、46层
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
代理机构
深圳市世联合知识产权代理有限公司 44385
代理人
汪琳琳
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
自动化测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
高越 .
中国专利 :CN112181835B ,2024-04-26
[2]
自动化测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
蔡萍萍 .
中国专利 :CN119621576A ,2025-03-14
[3]
自动化测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
丁勇 .
中国专利 :CN112631911A ,2021-04-09
[4]
自动化测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
韩涛 .
中国专利 :CN112631924A ,2021-04-09
[5]
基于BDD的自动化测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
何邱 .
中国专利 :CN109933521A ,2019-06-25
[6]
自动化测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
张巍巍 ;
李哲 ;
黄涛 .
中国专利 :CN114863240A ,2022-08-05
[7]
自动化测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
吕三 .
中国专利 :CN108572919A ,2018-09-25
[8]
自动化测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
陈豫 ;
黄睿 .
中国专利 :CN115437933A ,2022-12-06
[9]
自动化测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
吕三 .
中国专利 :CN108804320A ,2018-11-13
[10]
自动化测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
张巍巍 ;
李哲 ;
黄涛 .
中国专利 :CN114863240B ,2025-05-13