光学系统衍射杂散光分析方法

被引：0

申请号：

CN202211214003.6

申请日：

2022-09-30

公开(公告)号：

CN115391719A

公开(公告)日：

2022-11-25

发明(设计)人：

张新叶昊坤史广维

申请人：

申请人地址：

130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号

IPC主分类号：

G06F1710

IPC分类号：

G01M1102

代理机构：

长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218

代理人：

郭婷

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-12-13	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 17/10 申请日:20220930
2022-11-25	公开	公开

共 50 条

[1]

待测光学系统杂散光检测方法及杂散光检测系统 [P].

潘亮 ;

张周锋 ;

赵建科 ;

徐亮 ;

田留德 ;

刘峰 .

中国专利 :CN103149016A ,2013-06-12

[2]

待测光学系统杂散光检测系统 [P].

潘亮 ;

张周锋 ;

赵建科 ;

徐亮 ;

田留德 ;

刘峰 .

中国专利 :CN203132818U ,2013-08-14

[3]

低杂散光双单色器光学系统 [P].

赵跃鹏 .

中国专利 :CN202119532U ,2012-01-18

[4]

一种用于高能激光光学系统的杂散光分析抑制方法及高能激光光学系统 [P].

于祥燕 ;

康为民 ;

卢开昌 ;

张全 .

中国专利 :CN111158140A ,2020-05-15

[5]

对准衍射光学系统的方法和衍射光学元件 [P].

S·B·罗博尔 ;

S·G·J·马西森 ;

S·M·B·鲍默 .

中国专利 :CN110312968B ,2019-10-08

[6]

衍射光学组件及获取方法、光学系统 [P].

方红 ;

姜鹏 .

中国专利 :CN113514910A ,2021-10-19

[7]

层叠衍射光学元件和光学系统 [P].

齐藤贤一 ;

猪口和隆 .

中国专利 :CN102597821A ,2012-07-18

[8]

使用衍射光学元件的光学系统 [P].

崔允硕 ;

郑镐燮 ;

庆阡秀 ;

申东益 .

中国专利 :CN1766695A ,2006-05-03

[9]

光学系统公差分析方法 [P].

吴洪波 ;

张新 ;

张建萍 ;

王灵杰 ;

史广维 ;

赵尚男 ;

付强 .

中国专利 :CN114326098A ,2022-04-12

[10]

衍射光学元件、光学系统和光学装置 [P].

牛込礼生奈 .

中国专利 :CN101533115A ,2009-09-16

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