玻璃基板研磨量测量系统

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201720331381.0
申请日
2017-03-30
公开(公告)号
CN206605336U
公开(公告)日
2017-11-03
发明(设计)人
李青 支军令 穆美强 苏记华 杜跃武 段华磊 张云晓 李跃鑫
申请人
申请人地址
450016 河南省郑州市郑州经济技术开发区经南三路66号
IPC主分类号
B24B910
IPC分类号
B24B2700 B24B4904 B24B5502 B24B5100
代理机构
北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447
代理人
陈庆超;桑传标
法律状态
专利权质押合同登记的生效、变更及注销
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
玻璃基板研磨量测量方法及系统 [P]. 
李青 ;
支军令 ;
穆美强 ;
苏记华 ;
杜跃武 ;
段华磊 ;
张云晓 ;
李跃鑫 .
中国专利 :CN106903569A ,2017-06-30
[2]
玻璃基板研磨系统 [P]. 
李青 ;
苏记华 ;
李赫然 ;
支军令 ;
穆美强 ;
杜跃武 ;
张云晓 ;
孟伟华 ;
李跃鑫 .
中国专利 :CN206605335U ,2017-11-03
[3]
玻璃基板研磨系统 [P]. 
李青 ;
苏记华 ;
李赫然 ;
支军令 ;
穆美强 ;
杜跃武 ;
张云晓 ;
孟伟华 ;
李跃鑫 .
中国专利 :CN106903568A ,2017-06-30
[4]
玻璃基板研磨系统 [P]. 
杜跃武 ;
孟伟华 ;
张青华 ;
张松昊 ;
樊新宇 ;
陈龙武 .
中国专利 :CN205325368U ,2016-06-22
[5]
玻璃基板研磨轮及玻璃基板研磨装置 [P]. 
张同敬 ;
古国祥 ;
周荧彬 ;
胡芳林 ;
陈涛涛 ;
石志强 ;
李震 .
中国专利 :CN215036610U ,2021-12-07
[6]
玻璃基板磨削量检测系统 [P]. 
李青 ;
李赫然 ;
付继龙 ;
石志强 ;
李震 ;
董光明 ;
陆成州 ;
王广彪 ;
张骏 ;
伍敏 .
中国专利 :CN216285288U ,2022-04-12
[7]
玻璃基板包装测量系统 [P]. 
崔代文 ;
方红义 ;
林海峰 ;
付继龙 ;
董光明 ;
何怀胜 ;
李震 ;
赵玉乐 ;
李青 .
中国专利 :CN220948712U ,2024-05-14
[8]
玻璃基板的研磨总成的测量装置 [P]. 
张超 ;
骆兢 ;
方涛 ;
董光明 ;
石志强 ;
李震 ;
李俊生 .
中国专利 :CN209565995U ,2019-11-01
[9]
玻璃基板研磨设备 [P]. 
付继龙 ;
董光明 ;
徐豪 ;
骆兢 ;
伍敏 ;
石志强 ;
李震 ;
李俊生 .
中国专利 :CN207788516U ,2018-08-31
[10]
一种玻璃基板研磨系统 [P]. 
马岩 ;
刘先强 ;
刘东阳 ;
李兆廷 .
中国专利 :CN209207223U ,2019-08-06