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平板探测器残影校正方法及其校正装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201711298196.7
申请日
:
2017-12-08
公开(公告)号
:
CN108171765A
公开(公告)日
:
2018-06-15
发明(设计)人
:
苏晓芳
申请人
:
申请人地址
:
201201 上海市浦东新区瑞庆路590号9幢2层202室
IPC主分类号
:
G06T1100
IPC分类号
:
G06T500
代理机构
:
上海光华专利事务所(普通合伙) 31219
代理人
:
王华英
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-06-18
授权
授权
2018-06-15
公开
公开
2018-07-13
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 11/00 申请日:20171208
共 50 条
[1]
平板探测器残影校正方法、装置、存储介质及医疗设备
[P].
李海春
论文数:
0
引用数:
0
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0
李海春
;
李天华
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0
李天华
;
朱洪阳
论文数:
0
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朱洪阳
.
中国专利
:CN111445397A
,2020-07-24
[2]
平板探测器及其残影数据表的生成方法、残影补偿校正方法
[P].
黄细平
论文数:
0
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0
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黄细平
;
王锋
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0
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0
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0
王锋
;
张楠
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0
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0
张楠
;
金利波
论文数:
0
引用数:
0
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0
金利波
.
中国专利
:CN108172659B
,2018-06-15
[3]
探测器的图像残影校正方法及装置
[P].
杨俊越
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
杭州睿影科技有限公司
杭州睿影科技有限公司
杨俊越
.
中国专利
:CN118096910A
,2024-05-28
[4]
平板探测器的坏点校正方法
[P].
陈永丽
论文数:
0
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0
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陈永丽
;
牛杰
论文数:
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牛杰
;
胡扬
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0
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胡扬
;
崔凯
论文数:
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崔凯
;
张文日
论文数:
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0
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张文日
.
中国专利
:CN104835125A
,2015-08-12
[5]
平板探测器的增益校正方法
[P].
王淑丽
论文数:
0
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0
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0
王淑丽
.
中国专利
:CN109709597A
,2019-05-03
[6]
X射线平板探测器及其图像校正方法
[P].
赵斌
论文数:
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0
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赵斌
;
徐帅
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徐帅
;
庞净
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0
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庞净
.
中国专利
:CN113766878A
,2021-12-07
[7]
平板探测器及其温度校准方法与图像校正方法
[P].
刘建强
论文数:
0
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刘建强
;
刘洁清
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刘洁清
;
黄显国
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黄显国
;
苗骞
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0
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苗骞
.
中国专利
:CN101975965A
,2011-02-16
[8]
一种无线平板探测器及其图像校正方法
[P].
程涛
论文数:
0
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0
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0
程涛
;
沈文泓
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0
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沈文泓
;
张楠
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0
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0
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0
张楠
.
中国专利
:CN106551701A
,2017-04-05
[9]
消除平板探测器图像残影的方法及平板探测器
[P].
王锋
论文数:
0
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0
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王锋
;
张楠
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张楠
;
金利波
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金利波
;
张晨旭
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张晨旭
;
潘力平
论文数:
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0
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潘力平
.
中国专利
:CN106097282A
,2016-11-09
[10]
探测器、探测器晶体校正方法
[P].
陈灿
论文数:
0
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0
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0
机构:
上海联影医疗科技股份有限公司
上海联影医疗科技股份有限公司
陈灿
.
中国专利
:CN117497613A
,2024-02-02
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