透射带电粒子显微镜中的衍射图案检测

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810934619.8

申请日：

2018-08-16

公开(公告)号：

CN109411320A

公开(公告)日：

2019-03-01

发明(设计)人：

B.布依杰斯 M.库吉普尔

申请人：

申请人地址：

美国俄勒冈州

IPC主分类号：

H01J37244

IPC分类号：

H01J3726 H01J3728

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司 72001

代理人：

黄涛;申屠伟进

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-07-14	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):H01J 37/244 申请日:20180816
2019-03-01	公开	公开

共 50 条

[1]

在透射带电粒子显微镜中研究动态试样 [P].

B.L.M.亨德里克森 ;

E.R.基夫特 .

美国专利 :CN110361413B ,2024-10-25

[2]

在透射带电粒子显微镜中研究动态试样 [P].

B.L.M.亨德里克森 ;

E.R.基夫特 .

中国专利 :CN110361413A ,2019-10-22

[3]

在透射带电粒子显微镜中执行光谱术的方法 [P].

E.F.德荣格 ;

S.拉扎 ;

P.C.蒂伊梅杰 ;

R.格尔恩克 .

中国专利 :CN105405734A ,2016-03-16

[4]

扫描透射带电粒子显微镜中的智能预扫描 [P].

E.M.弗兰肯 ;

I.拉吉克 ;

B.J.詹森 .

美国专利 :CN110186943B ,2024-07-02

[5]

扫描透射带电粒子显微镜中的智能预扫描 [P].

E.M.弗兰肯 ;

I.拉吉克 ;

B.J.詹森 .

中国专利 :CN110186943A ,2019-08-30

[6]

带电粒子显微镜中的图像处理 [P].

B.J.詹斯森 ;

A.范德海德 ;

H.罗伊文 ;

S.托马斯森 .

中国专利 :CN108878239A8 ,2018-11-23

[7]

扫描透射带电粒子显微镜中的区别成像技术 [P].

E.G.博世 ;

I.拉吉克 ;

R.因劳 .

美国专利 :CN110223901B ,2025-01-21

[8]

扫描透射带电粒子显微镜中的区别成像技术 [P].

E.G.博世 ;

I.拉吉克 ;

R.因劳 .

中国专利 :CN110223901A ,2019-09-10

[9]

带电粒子显微镜中的非接触式温度测量 [P].

J.S.法伯 ;

L.特马 ;

T.布内特 ;

L.诺瓦克 .

中国专利 :CN105588644A ,2016-05-18

[10]

透射带电粒子显微镜的成像技术 [P].

B.J.詹森 ;

L.余 ;

E.M.弗兰肯 .

中国专利 :CN110082370A ,2019-08-02

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