一种电子产品外观缺陷检测装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202120503135.5
申请日
2021-03-09
公开(公告)号
CN215115932U
公开(公告)日
2021-12-10
发明(设计)人
马信 彭文凯
申请人
申请人地址
215000 江苏省苏州市苏州工业园区双马街98号2号楼二层205
IPC主分类号
G01N2188
IPC分类号
G01N2113
代理机构
代理人
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种电子产品外观表面缺陷检测设备 [P]. 
胡金鹏 ;
张雪源 .
中国专利 :CN221280939U ,2024-07-05
[2]
一种电子产品外观表面缺陷检测装置 [P]. 
刘哲 ;
于涛 ;
杨飞飞 .
中国专利 :CN206248563U ,2017-06-13
[3]
一种电子产品缺陷检测装置 [P]. 
唐千翔 .
中国专利 :CN210833474U ,2020-06-23
[4]
一种电子产品外观检测装置 [P]. 
郑淑云 .
中国专利 :CN215493232U ,2022-01-11
[5]
一种电子产品外观表面缺陷检测装置及其检测方法 [P]. 
刘哲 ;
于涛 ;
杨飞飞 .
中国专利 :CN106770307A ,2017-05-31
[6]
一种电子产品定位检测装置 [P]. 
丁爱英 ;
张春萍 .
中国专利 :CN222472223U ,2025-02-14
[7]
一种电子产品主板检测装置 [P]. 
郑灿城 ;
郑灿武 .
中国专利 :CN218383159U ,2023-01-24
[8]
一种电子产品生产用外观检测装置 [P]. 
董海青 ;
贡紫怡 .
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[9]
一种产品外观检测用外观缺陷检测装置 [P]. 
宋晓永 ;
朱俊高 .
中国专利 :CN214584971U ,2021-11-02
[10]
一种用于电子产品检测的传送装置 [P]. 
张帆 ;
陈晓婷 .
中国专利 :CN114751179A ,2022-07-15