申请人地址:
100029 北京市朝阳区北三环东路18号
共 50 条
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离子阱质谱仪
[P].
中国专利 :CN217158108U ,2022-08-09 [8]
离子阱质谱仪
[P].
中国专利 :CN303947113S ,2016-11-30 [9]
离子阱质谱仪
[P].
中国专利 :CN102884608A ,2013-01-16 [10]
石墨烯电极用于质谱仪中离子信号的快速检测装置和方法
[P].
靳留雨
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
中国计量科学研究院
中国计量科学研究院
靳留雨
;
徐福兴
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
中国计量科学研究院
中国计量科学研究院
徐福兴
;
闫迎华
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
中国计量科学研究院
中国计量科学研究院
闫迎华
;
丁传凡
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
中国计量科学研究院
中国计量科学研究院
丁传凡
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中国专利 :CN115436450B ,2025-01-24