一种新型α、β表面污染测量仪

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201922322159.6

申请日：

2019-12-20

公开(公告)号：

CN211741593U

公开(公告)日：

2020-10-23

发明(设计)人：

张庆威

申请人：

申请人地址：

100176 北京市大兴区经济技术开发区宏达南路3号

IPC主分类号：

G01T1167

IPC分类号：

G01T120

代理机构：

核工业专利中心 11007

代理人：

吕岩甲

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-10-23	授权	授权

共 50 条

[1]

一种新型表面污染测量仪 [P].

卢强 .

中国专利 :CN210894719U ,2020-06-30

[2]

α、β表面污染测量仪 [P].

顾文斌 ;

孙嘉豪 ;

周瑞 .

中国专利 :CN210567425U ,2020-05-19

[3]

测量仪（表面污染测量仪） [P].

林风 ;

郭晓青 .

中国专利 :CN306477355S ,2021-04-20

[4]

一种表面污染测量仪 [P].

韩涛 .

中国专利 :CN213482462U ,2021-06-18

[5]

一种α、β表面污染测量仪 [P].

林炬 ;

刘成 ;

张永锦 ;

戴瑜 ;

严洁 ;

尹建军 .

中国专利 :CN207380258U ,2018-05-18

[6]

一种表面污染测量仪 [P].

林周梁 ;

许凡 .

中国专利 :CN210982745U ,2020-07-10

[7]

一种表面污染测量仪 [P].

王棋赟 ;

徐智博 ;

吴桓 ;

陈中 ;

侯连岳 ;

吴俊 ;

余恒乐 .

中国专利 :CN216013688U ,2022-03-11

[8]

表面污染测量仪支架 [P].

黄英 ;

刘宇航 ;

徐立鹏 ;

杜元媛 ;

刘端 ;

古川 .

中国专利 :CN211669373U ,2020-10-13

[9]

表面污染测量仪 [P].

刘长明 ;

陈昶 ;

杜向阳 ;

刘芸 ;

韩淑萍 ;

刘正山 ;

孟丹 ;

任熠 ;

宋称心 .

中国专利 :CN3654325D ,2007-06-06

[10]

表面污染测量仪 [P].

郑永男 ;

张小彬 .

中国专利 :CN212483884U ,2021-02-05

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