晶体消光比半波电压及波片相位延迟的智能综合测量仪

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200410099143.9

申请日：

2004-12-28

公开(公告)号：

CN1645083A

公开(公告)日：

2005-07-27

发明(设计)人：

薄锋朱健强师树恒王勇

申请人：

申请人地址：

201800上海市800－211邮政信箱

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

代理机构：

上海新天专利代理有限公司

代理人：

张泽纯

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2005-07-27	公开	公开
2005-10-26	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回

共 50 条

[1]

晶体消光比半波电压及波片相位延迟的智能综合测量仪 [P].

薄锋 ;

朱健强 ;

师树恒 ;

王勇 .

中国专利 :CN100378445C ,2005-11-16

[2]

波片相位延迟度测量仪 [P].

钟景良 ;

桂思成 ;

陈耿 ;

陈贤泉 ;

王春雨 ;

孙保平 ;

吴同礼 ;

吴彬 .

中国专利 :CN209689890U ,2019-11-26

[3]

用于波片相位延迟度测量仪的机架 [P].

钟景良 ;

桂思成 ;

陈耿 ;

陈贤泉 ;

王春雨 ;

孙保平 ;

吴同礼 ;

吴彬 .

中国专利 :CN210034894U ,2020-02-07

[4]

波片相位延迟光谱特性的测量装置 [P].

张璐 .

中国专利 :CN203178064U ,2013-09-04

[5]

光学波片厚度的测量仪 [P].

欧阳斌 ;

林礼煌 ;

徐至展 ;

张秉钧 ;

莽燕萍 .

中国专利 :CN2515652Y ,2002-10-09

[6]

测量1/4波片的相位延迟和快轴方向的装置 [P].

薄锋 ;

朱健强 ;

康俊 ;

范微 .

中国专利 :CN201032473Y ,2008-03-05

[7]

波片相位延迟光谱特性的测量方法及装置 [P].

张璐 .

中国专利 :CN103196658A ,2013-07-10

[8]

一种精确测量波片相位延迟量的方法 [P].

王伟 ;

梁志强 ;

陈建中 .

中国专利 :CN103411756A ,2013-11-27

[9]

一种相位调制器半波电压测量系统及测量方法 [P].

王金东 ;

陈文君 ;

苏华填 ;

王晓静 ;

江银珠 ;

魏正军 ;

张智明 .

中国专利 :CN105717344A ,2016-06-29

[10]

一种波片相位延迟的精密测量系统及其实现方法 [P].

侯俊峰 .

中国专利 :CN102589850A ,2012-07-18

← 1 2 3 4 5 →