热分析装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201310070923.X

申请日：

2013-03-06

公开(公告)号：

CN103308416A

公开(公告)日：

2013-09-18

发明(设计)人：

长泽宽治山田健太郎西村晋哉

申请人：

申请人地址：

日本千叶县千叶市

IPC主分类号：

G01N504

IPC分类号：

G01N144

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司 72001

代理人：

肖日松;杨楷

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-12-28	授权	授权
2013-09-18	公开	公开
2014-08-06	著录事项变更	著录事项变更号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101703676602 IPC(主分类):G01N 5/04 专利申请号:201310070923X 变更事项:申请人变更前:精工电子纳米科技有限公司变更后:日本株式会社日立高新技术科学变更事项:地址变更前:日本千叶县千叶市变更后:日本东京都
2015-01-14	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101595532063 IPC(主分类):G01N 5/04 专利申请号:201310070923X 申请日:20130306

共 50 条

[1]

热分析装置 [P].

西村晋哉 ;

山田健太郎 ;

长泽宽治 ;

高泽良治 .

中国专利 :CN104698025A ,2015-06-10

[2]

热分析装置 [P].

富田创 ;

佐藤公纪 ;

清水悟司 ;

西畑香织 .

中国专利 :CN112782213A ,2021-05-11

[3]

热分析装置 [P].

熊崎高士 ;

山田健太郎 .

中国专利 :CN111678832A ,2020-09-18

[4]

热分析装置 [P].

小林贤吾 ;

冈野结衣 ;

藤原宽仁 ;

中川嵩太 .

日本专利 :CN121231558A ,2025-12-30

[5]

热分析装置 [P].

山田健太郎 ;

西村晋哉 ;

藤原宽仁 .

中国专利 :CN102235987B ,2011-11-09

[6]

热分析装置 [P].

伊藤晋 ;

下田瑛太 .

日本专利 :CN112113994B ,2024-10-18

[7]

热分析装置 [P].

丸田道男 ;

内池光正 .

中国专利 :CN1010505B ,1986-07-30

[8]

热分析装置 [P].

西村晋哉 ;

藤原宽仁 .

中国专利 :CN104914124A ,2015-09-16

[9]

热分析装置 [P].

伊藤晋 ;

下田瑛太 .

中国专利 :CN112113994A ,2020-12-22

[10]

热分析装置 [P].

山田健太郎 ;

西村晋哉 ;

藤原宽仁 .

中国专利 :CN105651807B ,2016-06-08

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