一种基于差异测试的FPGA综合工具缺陷检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110251720.5

申请日：

2021-03-08

公开(公告)号：

CN112948193A

公开(公告)日：

2021-06-11

发明(设计)人：

江贺张漪施重阳刘辉

申请人：

申请人地址：

100081 北京市海淀区中关村南大街5号

IPC主分类号：

G06F1122

IPC分类号：

G06F1136

代理机构：

北京正阳理工知识产权代理事务所(普通合伙) 11639

代理人：

王民盛

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-07-02	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/22 申请日:20210308
2021-06-11	公开	公开

共 50 条

[1]

一种基于等价取模测试的高级综合工具缺陷检测方法 [P].

江贺 ;

王尊 ;

任志磊 ;

周志德 .

中国专利 :CN113010427B ,2024-12-06

[2]

一种基于等价取模测试的高级综合工具缺陷检测方法 [P].

江贺 ;

王尊 ;

任志磊 ;

周志德 .

中国专利 :CN113010427A ,2021-06-22

[3]

一种基于差分测试的高级综合工具优化选项缺陷检测方法 [P].

江贺 ;

王尊 ;

周志德 ;

任志磊 .

中国专利 :CN114385492A ,2022-04-22

[4]

一种基于差分测试的高级综合工具优化选项缺陷检测方法 [P].

江贺 ;

王尊 ;

周志德 ;

任志磊 .

中国专利 :CN114385492B ,2024-07-12

[5]

一种基于多样性导向变异的高级综合工具缺陷检测方法 [P].

江贺 ;

王尊 ;

周志德 ;

任志磊 .

中国专利 :CN113268429A ,2021-08-17

[6]

一种基于多样性导向变异的高级综合工具缺陷检测方法 [P].

江贺 ;

王尊 ;

周志德 ;

任志磊 .

中国专利 :CN113268429B ,2025-03-25

[7]

一种基于变异的FPGA逻辑综合工具模糊测试方法 [P].

江贺 ;

张漪 ;

施重阳 ;

刘辉 .

中国专利 :CN113434390B ,2021-09-24

[8]

一种基于差异增强特征重建的缺陷检测方法及装置 [P].

苏育挺 ;

井配光 .

中国专利 :CN118865047A ,2024-10-29

[9]

一种基于差异增强特征重建的缺陷检测方法及装置 [P].

苏育挺 ;

井佩光 .

中国专利 :CN118865047B ,2025-01-03

[10]

一种基于SignaltapⅡ的FPGA开发板管脚缺陷检测方法 [P].

刘明哲 ;

柳炳琦 ;

庹先国 ;

成毅 ;

魏丁一 ;

曾柯 .

中国专利 :CN104133174B ,2014-11-05

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