样品分析系统

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申请号
CN202210087095.X
申请日
2018-05-09
公开(公告)号
CN114471758A
公开(公告)日
2022-05-13
发明(设计)人
施文典
申请人
申请人地址
美国加利福尼亚州尔湾市技术大街18号200单元
IPC主分类号
B01L300
IPC分类号
B32B320 B32B326 B32B704 B32B708 B32B712 B32B1504 B32B1520 B32B2708 B32B2732 B65B6900
代理机构
深圳舍穆专利代理事务所(特殊普通合伙) 44398
代理人
黄贤炬
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
样品分析系统 [P]. 
村上幸雄 .
中国专利 :CN110244069A ,2019-09-17
[2]
样品分析系统 [P]. 
村上幸雄 .
中国专利 :CN107367621A ,2017-11-21
[3]
样品分析系统 [P]. 
加藤垒 ;
西伸彦 ;
松下知义 ;
若杉幸子 ;
大穗健介 ;
小林裕子 ;
才村彻也 .
日本专利 :CN121241260A ,2025-12-30
[4]
样品分析系统 [P]. 
马库斯·格罗斯曼 ;
尤里·卡林依特成科 ;
沃尔弗拉姆·魏斯海特 ;
菲利普·弗雷德里克·舒尔茨 .
德国专利 :CN117848976A ,2024-04-09
[5]
在线移送的分析样品的分析系统 [P]. 
川端克彦 ;
一之濑达也 ;
池内满政 .
中国专利 :CN107209124A ,2017-09-26
[6]
样品分析装置、样品分析系统和样品分注方法 [P]. 
平田克树 ;
佐野知树 .
日本专利 :CN120883062A ,2025-10-31
[7]
样品分析装置 [P]. 
中山秀喜 ;
中川和哉 ;
饭田裕 ;
中井阳子 .
日本专利 :CN110651191B ,2024-02-13
[8]
样品分析装置 [P]. 
中山秀喜 ;
中川和哉 ;
饭田裕 ;
中井阳子 .
中国专利 :CN110651191A ,2020-01-03
[9]
样品分析组件、样品分析装置及样品分析方法 [P]. 
易国霞 .
中国专利 :CN108645793B ,2018-10-12
[10]
分析系统和分析样品的方法 [P]. 
Z·欧阳 ;
L·高 ;
罗伯特·格雷厄姆·库克斯 .
中国专利 :CN104051219B ,2014-09-17