基于光照背景差影法的水果表面缺陷检测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201510411925.X
申请日
2015-07-14
公开(公告)号
CN105044128A
公开(公告)日
2015-11-11
发明(设计)人
应义斌 容典 饶秀勤
申请人
申请人地址
310027 浙江省杭州市西湖区浙大路38号
IPC主分类号
G01N21952
IPC分类号
G06T700 G06T510
代理机构
杭州求是专利事务所有限公司 33200
代理人
林怀禹
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
一种梯度迭代阈值分割的水果表面缺陷检测方法 [P]. 
应义斌 ;
容典 ;
饶秀勤 .
中国专利 :CN105675625B ,2016-06-15
[2]
一种快速局部阈值分割的水果表面缺陷检测方法 [P]. 
应义斌 ;
容典 ;
饶秀勤 .
中国专利 :CN107037056A ,2017-08-11
[3]
基于滑动比较窗口自适应分割的水果表面缺陷检测方法 [P]. 
应义斌 ;
容典 ;
饶秀勤 .
中国专利 :CN105354847B ,2016-02-24
[4]
基于自适应改进型梯度信息的水果表面缺陷检测方法 [P]. 
应义斌 ;
容典 ;
饶秀勤 .
中国专利 :CN105004737B ,2015-10-28
[5]
基于多图像块阈值分割算法的水果表面缺陷检测方法 [P]. 
吕强 ;
张明 ;
李鹏 ;
王腾 ;
郑永强 ;
易时来 ;
谢让金 ;
马岩岩 .
中国专利 :CN110473194A ,2019-11-19
[6]
一种基于自适应亮度回归矫正的水果表面缺陷检测方法 [P]. 
应义斌 ;
容典 ;
饶秀勤 .
中国专利 :CN106124511A ,2016-11-16
[7]
一种基于深度学习分割的水果表面缺陷检测方法 [P]. 
容典 ;
应义斌 ;
饶秀勤 .
中国专利 :CN109377487B ,2019-02-22
[8]
一种基于差影法的TFT基板线路缺陷检测方法 [P]. 
武鹏宇 ;
张新娜 ;
吴太权 .
中国专利 :CN115471465A ,2022-12-13
[9]
基于差影法与局部方差测量算子的复杂瓷砖表面缺陷检测方法 [P]. 
李军华 ;
权小霞 ;
汪宇玲 ;
陈昊 .
中国专利 :CN109540925B ,2019-03-29
[10]
水果表面缺陷检测方法 [P]. 
张保华 ;
刘成良 ;
赵春江 ;
贡亮 ;
李彦明 ;
黄丹枫 .
中国专利 :CN103149214A ,2013-06-12