一种基于YOLOv5的PCB缺陷检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110799875.2

申请日：

2021-07-15

公开(公告)号：

CN113538375A

公开(公告)日：

2021-10-22

发明(设计)人：

夏远超杨永跃周博

申请人：

申请人地址：

230009 安徽省合肥市包河区屯溪路193号合肥工业大学屯溪路校区

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T710 G06T340 G06T360 G06N304 G06N308

代理机构：

北京国坤专利代理事务所(普通合伙) 11491

代理人：

赵红霞

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-10-22	公开	公开
2021-11-09	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20210715

共 50 条

[1]

基于改进Yolov5算法的PCB表面缺陷检测方法 [P].

陈祖国 ;

李玉青 ;

陈超洋 ;

卢明 ;

陈永伟 .

中国专利 :CN115546144A ,2022-12-30

[2]

基于改进YOLOv5的PCB表面缺陷优化检测方法 [P].

陈发祥 ;

吴燕燕 ;

王之雨 ;

宋肽宇 ;

谢佳何 .

中国专利 :CN119090827A ,2024-12-06

[3]

一种基于改进YOLOV5的PCB缺陷检测方法 [P].

胡啸天 ;

胡啸宇 .

中国专利 :CN120259266A ,2025-07-04

[4]

一种基于YOLOv5的PCB表面缺陷检测方法 [P].

许翰林 ;

王栗 ;

陈峰 .

中国专利 :CN118212192A ,2024-06-18

[5]

一种基于YOLOv5的PCB表面缺陷改进检测方法 [P].

陈斌 ;

王国伟 ;

王琳泉 ;

陈玉 ;

韩旭彤 ;

郑国旺 ;

汤峰 .

中国专利 :CN117455835A ,2024-01-26

[6]

基于改进YOLOv5算法的PCB表面缺陷检测方法 [P].

尚玉玲 ;

叶晓静 ;

侯杏娜 ;

韦淞译 ;

曾丽珍 .

中国专利 :CN114372949A ,2022-04-19

[7]

一种基于改进YOLOv5算法的PCB缺陷检测方法 [P].

张剑 ;

苑明昊 ;

周永兵 ;

任晓羽 ;

赵用 .

中国专利 :CN117830213A ,2024-04-05

[8]

一种基于改进YOLOv5的PCB板表面缺陷检测方法 [P].

王成 ;

张嘉鹏 ;

王英民 ;

刘思杰 ;

王奇 ;

陶林伟 ;

郑琨 ;

黄爱萍 .

中国专利 :CN115719338B ,2025-07-25

[9]

一种基于改进YOLOv5算法的PCB表面缺陷检测方法 [P].

詹浣湫 ;

武美妍 ;

王建超 ;

孔锐 ;

顾玉娣 ;

袁进 .

中国专利 :CN119810035A ,2025-04-11

[10]

基于改进YOLOv5的表面缺陷检测方法 [P].

杨文 ;

汤臣薇 ;

吉昱阳 ;

郭美彤 ;

刘沛东 ;

程锦国 .

中国专利 :CN114677362A ,2022-06-28

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