一种真空测试箱的真空测试装置

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申请号
CN202222203105.X
申请日
2022-08-22
公开(公告)号
CN218211773U
公开(公告)日
2023-01-03
发明(设计)人
朱庆 翟飞
申请人
申请人地址
215000 江苏省苏州市高新区长亭路9号2幢201-5室
IPC主分类号
G01M302
IPC分类号
代理机构
苏州国卓知识产权代理有限公司 32331
代理人
刘颖棋
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
真空测试罩及真空测试装置 [P]. 
黎海鑫 ;
赖友荣 ;
伍伟强 ;
周艳辉 .
中国专利 :CN221033057U ,2024-05-28
[2]
一种真空测试装置 [P]. 
陈鑫荣 ;
张志超 ;
李扬 ;
周鹏 .
中国专利 :CN222837615U ,2025-05-06
[3]
真空测试装置 [P]. 
张和毅 .
中国专利 :CN114441099A ,2022-05-06
[4]
真空测试装置 [P]. 
张和毅 .
中国专利 :CN114441099B ,2024-06-21
[5]
自动真空测试装置 [P]. 
李加宾 ;
侯善全 ;
杨勇 ;
邓颂昌 ;
庞龙元 .
中国专利 :CN206496877U ,2017-09-15
[6]
一种真空测试装置 [P]. 
于海涛 .
中国专利 :CN217212258U ,2022-08-16
[7]
一种真空测试箱的真空测试进气封堵结构 [P]. 
朱庆 ;
翟飞 .
中国专利 :CN218211772U ,2023-01-03
[8]
芯片真空测试装置 [P]. 
邵旭飞 ;
郭晶莹 .
中国专利 :CN117109823B ,2024-05-31
[9]
脉动真空测试装置 [P]. 
赵可龙 ;
侯纪民 ;
胡晓云 ;
韩宝福 .
中国专利 :CN307140922S ,2022-03-04
[10]
真空测试包 [P]. 
何国强 .
中国专利 :CN204301925U ,2015-04-29