缺陷检测方法、装置、设备及存储介质

被引：0

申请号：

CN202110777266.7

申请日：

2021-07-09

公开(公告)号：

CN115661021A

公开(公告)日：

2023-01-31

发明(设计)人：

陈振豪

申请人：

申请人地址：

230000 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T711 G06T713 G06T790

代理机构：

北京派特恩知识产权代理有限公司 11270

代理人：

陈万青;张颖玲

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-02-17	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20210709
2023-01-31	公开	公开

共 50 条

[1]

缺陷检测方法、缺陷检测设备及存储介质 [P].

严鹏 .

中国专利 :CN117392042A ,2024-01-12

[2]

缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

解三霞 ;

时广军 ;

周钟海 ;

姚毅 ;

杨艺 .

中国专利 :CN114235758A ,2022-03-25

[3]

缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

黄耀 ;

胡中慧 .

中国专利 :CN114155244B ,2022-03-08

[4]

缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

杨牧 ;

赵亮 ;

李建福 ;

杨辉华 ;

陈建文 ;

张董 .

中国专利 :CN117392066B ,2024-07-09

[5]

缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

杨牧 ;

赵亮 ;

李建福 ;

杨辉华 ;

陈建文 ;

张董 .

中国专利 :CN117392066A ,2024-01-12

[6]

缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

陈鲁 ;

肖遥 ;

张鹏斌 ;

张嵩 .

中国专利 :CN118052749A ,2024-05-17

[7]

缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

王健 ;

陈晓炬 ;

李磊 .

中国专利 :CN114418969A ,2022-04-29

[8]

缺陷检测方法、设备、存储介质及装置 [P].

余亦卓 ;

楼啸天 .

中国专利 :CN117557550A ,2024-02-13

[9]

缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

张辉 ;

王景泰 .

中国专利 :CN118365600A ,2024-07-19

[10]

缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

刘雯 ;

沈利坚 .

中国专利 :CN121163919A ,2025-12-19

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