探针卡及WAT测试机台

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010078678.7
申请日
2020-02-03
公开(公告)号
CN111257605B
公开(公告)日
2020-06-09
发明(设计)人
徐晶 肖尚刚 周波
申请人
申请人地址
201315 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路497号
IPC主分类号
G01R1073
IPC分类号
B08B1300 G01R3126
代理机构
上海浦一知识产权代理有限公司 31211
代理人
焦天雷
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
探针卡及测试机台 [P]. 
陈洋洋 ;
褚宜鑫 .
中国专利 :CN222850664U ,2025-05-09
[2]
探针卡及测试机台 [P]. 
张传益 ;
邹俊杰 .
中国专利 :CN203849368U ,2014-09-24
[3]
一种WAT探针卡WAT测试用探针台 [P]. 
李杰 ;
殷军伟 .
中国专利 :CN222850654U ,2025-05-09
[4]
WAT测试机台的保护结构和方法 [P]. 
邢阳阳 ;
陆尉 .
中国专利 :CN118641814A ,2024-09-13
[5]
测试机台及测试方法 [P]. 
张藏文 ;
朱鹏 .
中国专利 :CN107942222A ,2018-04-20
[6]
可换用不同探针卡的IC测试机台 [P]. 
蔡秉谚 ;
陈峰杰 .
中国专利 :CN101738575A ,2010-06-16
[7]
用于检验WAT测试机台的测试结构及方法、测试系统 [P]. 
孔建业 .
中国专利 :CN115079075A ,2022-09-20
[8]
测试机台及测试方法 [P]. 
张藏文 ;
朱鹏 .
中国专利 :CN108279368A ,2018-07-13
[9]
探针测试机台及测试系统、更换探针板卡的方法 [P]. 
顾良波 ;
张志勇 ;
鲍小燕 ;
周官宏 .
中国专利 :CN114325006A ,2022-04-12
[10]
探针测试机台及测试系统、更换探针板卡的方法 [P]. 
顾良波 ;
张志勇 ;
鲍小燕 ;
周官宏 .
中国专利 :CN114325006B ,2025-02-25