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探针卡及WAT测试机台
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202010078678.7
申请日
:
2020-02-03
公开(公告)号
:
CN111257605B
公开(公告)日
:
2020-06-09
发明(设计)人
:
徐晶
肖尚刚
周波
申请人
:
申请人地址
:
201315 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路497号
IPC主分类号
:
G01R1073
IPC分类号
:
B08B1300
G01R3126
代理机构
:
上海浦一知识产权代理有限公司 31211
代理人
:
焦天雷
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-06-14
授权
授权
2020-07-03
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 1/073 申请日:20200203
2020-06-09
公开
公开
共 50 条
[1]
探针卡及测试机台
[P].
陈洋洋
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
芯恩(青岛)集成电路有限公司
芯恩(青岛)集成电路有限公司
陈洋洋
;
褚宜鑫
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0
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0
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0
机构:
芯恩(青岛)集成电路有限公司
芯恩(青岛)集成电路有限公司
褚宜鑫
.
中国专利
:CN222850664U
,2025-05-09
[2]
探针卡及测试机台
[P].
张传益
论文数:
0
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0
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0
张传益
;
邹俊杰
论文数:
0
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0
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0
邹俊杰
.
中国专利
:CN203849368U
,2014-09-24
[3]
一种WAT探针卡WAT测试用探针台
[P].
李杰
论文数:
0
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0
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0
机构:
梯牧半导体科技(上海)有限公司
梯牧半导体科技(上海)有限公司
李杰
;
殷军伟
论文数:
0
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0
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0
机构:
梯牧半导体科技(上海)有限公司
梯牧半导体科技(上海)有限公司
殷军伟
.
中国专利
:CN222850654U
,2025-05-09
[4]
WAT测试机台的保护结构和方法
[P].
邢阳阳
论文数:
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0
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机构:
上海华力集成电路制造有限公司
上海华力集成电路制造有限公司
邢阳阳
;
陆尉
论文数:
0
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0
机构:
上海华力集成电路制造有限公司
上海华力集成电路制造有限公司
陆尉
.
中国专利
:CN118641814A
,2024-09-13
[5]
测试机台及测试方法
[P].
张藏文
论文数:
0
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张藏文
;
朱鹏
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朱鹏
.
中国专利
:CN107942222A
,2018-04-20
[6]
可换用不同探针卡的IC测试机台
[P].
蔡秉谚
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0
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蔡秉谚
;
陈峰杰
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0
陈峰杰
.
中国专利
:CN101738575A
,2010-06-16
[7]
用于检验WAT测试机台的测试结构及方法、测试系统
[P].
孔建业
论文数:
0
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孔建业
.
中国专利
:CN115079075A
,2022-09-20
[8]
测试机台及测试方法
[P].
张藏文
论文数:
0
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张藏文
;
朱鹏
论文数:
0
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0
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朱鹏
.
中国专利
:CN108279368A
,2018-07-13
[9]
探针测试机台及测试系统、更换探针板卡的方法
[P].
顾良波
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0
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顾良波
;
张志勇
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张志勇
;
鲍小燕
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0
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0
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鲍小燕
;
周官宏
论文数:
0
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0
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周官宏
.
中国专利
:CN114325006A
,2022-04-12
[10]
探针测试机台及测试系统、更换探针板卡的方法
[P].
顾良波
论文数:
0
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0
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机构:
上海华岭集成电路技术股份有限公司
上海华岭集成电路技术股份有限公司
顾良波
;
张志勇
论文数:
0
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0
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机构:
上海华岭集成电路技术股份有限公司
上海华岭集成电路技术股份有限公司
张志勇
;
鲍小燕
论文数:
0
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0
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0
机构:
上海华岭集成电路技术股份有限公司
上海华岭集成电路技术股份有限公司
鲍小燕
;
周官宏
论文数:
0
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机构:
上海华岭集成电路技术股份有限公司
上海华岭集成电路技术股份有限公司
周官宏
.
中国专利
:CN114325006B
,2025-02-25
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