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测量装置、测量方法和参数设定方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201280053504.9
申请日
:
2012-09-10
公开(公告)号
:
CN104024828B
公开(公告)日
:
2014-09-03
发明(设计)人
:
鸟海洋一
川部英雄
桦泽宪一
铃木达也
今井宽和
上野正俊
申请人
:
申请人地址
:
日本东京都
IPC主分类号
:
G01N2127
IPC分类号
:
代理机构
:
北京市柳沈律师事务所 11105
代理人
:
曲莹
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2014-09-03
公开
公开
2014-12-03
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101590113500 IPC(主分类):G01N 21/27 专利申请号:2012800535049 申请日:20120910
2017-08-25
授权
授权
共 50 条
[1]
测量装置和测量方法
[P].
胁田能宏
论文数:
0
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胁田能宏
;
相泽耕太
论文数:
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相泽耕太
;
五十岚崇裕
论文数:
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五十岚崇裕
.
中国专利
:CN115315213A
,2022-11-08
[2]
光学参数测量装置和光学参数测量方法
[P].
刘世豪
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
武汉联影智融医疗科技有限公司
武汉联影智融医疗科技有限公司
刘世豪
.
中国专利
:CN120063484A
,2025-05-30
[3]
测量装置和测量方法
[P].
鸟海洋一
论文数:
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鸟海洋一
;
川部英雄
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川部英雄
;
桦泽宪一
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桦泽宪一
;
铃木达也
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铃木达也
;
今井宽和
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今井宽和
;
上野正俊
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上野正俊
.
中国专利
:CN102419314A
,2012-04-18
[4]
光学测量装置和光学测量方法
[P].
今泉良一
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今泉良一
;
谷口一郎
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谷口一郎
.
中国专利
:CN111795642A
,2020-10-20
[5]
光学测量装置和光学测量方法
[P].
今泉良一
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机构:
株式会社三丰
株式会社三丰
今泉良一
;
谷口一郎
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机构:
株式会社三丰
株式会社三丰
谷口一郎
.
日本专利
:CN111795642B
,2024-06-18
[6]
距离测量装置和距离测量方法
[P].
田汤贤一
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田汤贤一
.
中国专利
:CN113227836A
,2021-08-06
[7]
距离测量装置和距离测量方法
[P].
田汤贤一
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
田汤贤一
.
日本专利
:CN113227836B
,2024-12-17
[8]
鞋楦综合参数激光测量装置和测量方法
[P].
孙毅
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孙毅
;
金广华
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金广华
.
中国专利
:CN101721013A
,2010-06-09
[9]
测量设备和测量方法
[P].
武藤裕之
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武藤裕之
.
中国专利
:CN102192710A
,2011-09-21
[10]
测量装置和测量方法
[P].
铃木一隆
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铃木一隆
;
松井克宜
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松井克宜
;
丰田晴义
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丰田晴义
;
宅见宗则
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宅见宗则
;
袴田直俊
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袴田直俊
.
中国专利
:CN105792730A
,2016-07-20
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