学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
一种电缆铅封涡流检测方法、检测模块及缺陷检测系统
被引:0
申请号
:
CN202211095042.9
申请日
:
2022-09-08
公开(公告)号
:
CN115406961A
公开(公告)日
:
2022-11-29
发明(设计)人
:
邵千秋
范松海
刘凤莲
张榆
罗东辉
穆舟
申请人
:
申请人地址
:
610000 四川省成都市高新区锦晖西二街16号
IPC主分类号
:
G01N2790
IPC分类号
:
G01N27904
代理机构
:
成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220
代理人
:
史丽红
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-12-16
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 27/90 申请日:20220908
2022-11-29
公开
公开
共 50 条
[1]
缺陷检测系统及缺陷检测方法
[P].
许平康
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
许平康
;
方桂芹
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
方桂芹
;
黄仁德
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黄仁德
.
中国专利
:CN109596639A
,2019-04-09
[2]
一种脉冲涡流缺陷定量检测方法及检测系统
[P].
于亚婷
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
于亚婷
;
关佳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
关佳
.
中国专利
:CN103257182A
,2013-08-21
[3]
一种电缆铅封多频涡流探头检测方法及系统
[P].
邵千秋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
邵千秋
;
范松海
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
范松海
;
刘凤莲
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘凤莲
;
李巍巍
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李巍巍
;
张榆
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张榆
;
罗东辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
罗东辉
;
穆舟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
穆舟
;
夏亚龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
夏亚龙
.
中国专利
:CN115128160A
,2022-09-30
[4]
一种缺陷检测系统及其缺陷检测方法
[P].
朱宇轩
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
宁波微纳清科智能技术有限公司
宁波微纳清科智能技术有限公司
朱宇轩
;
张长水
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
宁波微纳清科智能技术有限公司
宁波微纳清科智能技术有限公司
张长水
;
曹沿松
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
宁波微纳清科智能技术有限公司
宁波微纳清科智能技术有限公司
曹沿松
;
陈龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
宁波微纳清科智能技术有限公司
宁波微纳清科智能技术有限公司
陈龙
.
中国专利
:CN118688119A
,2024-09-24
[5]
一种缺陷检测方法及缺陷检测系统
[P].
茹泽伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
茹泽伟
;
刁梁
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刁梁
;
付磊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
付磊
.
中国专利
:CN113405994A
,2021-09-17
[6]
一种缺陷检测系统及缺陷检测方法
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
陈鲁
;
黄有为
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
黄有为
;
张龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
张龙
;
朱燕明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
朱燕明
;
王建龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
王建龙
.
中国专利
:CN120847114A
,2025-10-28
[7]
一种缺陷检测系统及缺陷检测方法
[P].
曹阳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
福州恒美光电材料有限公司
福州恒美光电材料有限公司
曹阳
;
谢佳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
福州恒美光电材料有限公司
福州恒美光电材料有限公司
谢佳
;
翟攀攀
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
福州恒美光电材料有限公司
福州恒美光电材料有限公司
翟攀攀
;
严兵华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
福州恒美光电材料有限公司
福州恒美光电材料有限公司
严兵华
;
施明志
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
福州恒美光电材料有限公司
福州恒美光电材料有限公司
施明志
;
郭育诚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
福州恒美光电材料有限公司
福州恒美光电材料有限公司
郭育诚
.
中国专利
:CN120213930A
,2025-06-27
[8]
一种缺陷检测系统及缺陷检测方法
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
陈鲁
;
黄有为
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
黄有为
;
张龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
张龙
;
赵康俊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
赵康俊
;
刘英见
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
刘英见
.
中国专利
:CN120801333A
,2025-10-17
[9]
一种缺陷检测系统及缺陷检测方法
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
陈鲁
;
黄有为
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
黄有为
;
张龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
张龙
;
赵康俊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
赵康俊
;
刘英见
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
刘英见
.
中国专利
:CN120801333B
,2025-12-09
[10]
一种缺陷检测系统及缺陷检测方法
[P].
田依杉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海御微半导体技术有限公司
上海御微半导体技术有限公司
田依杉
;
兰艳平
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海御微半导体技术有限公司
上海御微半导体技术有限公司
兰艳平
.
中国专利
:CN115508364B
,2025-04-25
←
1
2
3
4
5
→