扫描振镜振动参数的测量系统和测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610443918.2

申请日：

2016-06-20

公开(公告)号：

CN106092302A

公开(公告)日：

2016-11-09

发明(设计)人：

李坤陈永权赵建科薛勋刘尚阔曹昆段亚轩李晶王争锋昌明

申请人：

申请人地址：

710119 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号

IPC主分类号：

G01H900

IPC分类号：

代理机构：

西安智邦专利商标代理有限公司 61211

代理人：

陈广民

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-03-25	授权	授权
2016-12-07	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101690419458 IPC(主分类):G01H 9/00 专利申请号:2016104439182 申请日:20160620
2016-11-09	公开	公开

共 50 条

[1]

扫描振镜振动参数的测量系统 [P].

李坤 ;

陈永权 ;

赵建科 ;

薛勋 ;

刘尚阔 ;

曹昆 ;

段亚轩 ;

李晶 ;

王争锋 ;

昌明 .

中国专利 :CN205785496U ,2016-12-07

[2]

MEMS扫描振镜振动参数的测量系统和测量方法 [P].

谢会开 ;

王鹏 .

中国专利 :CN113932908A ,2022-01-14

[3]

扫描镜的扫描参数测量方法 [P].

陈杰 ;

向少卿 .

中国专利 :CN110426181B ,2019-11-08

[4]

振动测量系统和振动测量方法 [P].

陈放怡 ;

郭翠霞 ;

杨肖杰 .

中国专利 :CN111121944A ,2020-05-08

[5]

超声参数测量方法和超声参数测量系统 [P].

朱磊 ;

刘超越 ;

邹耀贤 ;

林穆清 ;

黄永 .

中国专利 :CN114521914A ,2022-05-24

[6]

颗粒流动参数的测量系统及测量方法 [P].

许传龙 ;

王颢然 ;

李健 .

中国专利 :CN110376399B ,2019-10-25

[7]

用于测量坡度的测量系统和测量方法 [P].

吴风云 ;

雷振洪 .

中国专利 :CN119779251A ,2025-04-08

[8]

高频振动测量方法、高频振动测量系统 [P].

周峻峰 ;

方肖勇 ;

邵磊 ;

张文明 .

中国专利 :CN120947796A ,2025-11-14

[9]

材料动态测量方法和轴向振动测量系统 [P].

应鹏飞 ;

陈文韬 ;

葛宇龙 ;

夏勇 ;

周青 .

中国专利 :CN111122320A ,2020-05-08

[10]

薄膜参数测量方法及测量系统 [P].

秦康 ;

庄亚政 ;

张雷 .

中国专利 :CN120577234A ,2025-09-02

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