一种直发器老化测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201720191482.2

申请日：

2017-02-28

公开(公告)号：

CN206618814U

公开(公告)日：

2017-11-07

发明(设计)人：

卢国强陈平远何神东

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市龙华新区观澜街道观澜樟坑径下围工业区一路六号G栋二楼

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

代理机构：

深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙) 44248

代理人：

李利

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-02-22	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/00 申请日:20170228 授权公告日:20171107 终止日期:20210228
2017-11-07	授权	授权

共 50 条

[1]

直发器测试电路和直发器测试装置 [P].

冯业 .

中国专利 :CN216285605U ,2022-04-12

[2]

一种直发器自动老化测试设备 [P].

卢国强 ;

苏策敏 ;

黄香山 .

中国专利 :CN207457445U ,2018-06-05

[3]

一种老化测试装置 [P].

陈全 ;

邵懿 ;

文俊 ;

周廷兴 .

中国专利 :CN204330978U ,2015-05-13

[4]

一种老化测试装置 [P].

邝世程 .

中国专利 :CN217846391U ,2022-11-18

[5]

避雷器绝缘老化测试装置 [P].

张从柱 ;

章伟国 ;

黄乐强 ;

王云军 ;

张芳江 .

中国专利 :CN201886098U ,2011-06-29

[6]

一种MTK板的老化测试装置及屏幕老化测试装置 [P].

颜志军 ;

文瑜龙 ;

黄穗杰 .

中国专利 :CN215526032U ,2022-01-14

[7]

避雷器绝缘老化测试装置及测试方法 [P].

张从柱 ;

章伟国 ;

黄乐强 ;

王云军 ;

张芳江 .

中国专利 :CN102023279A ,2011-04-20

[8]

传感器老化测试装置 [P].

杨旭 .

中国专利 :CN217278215U ,2022-08-23

[9]

一种电源老化测试装置 [P].

李超 ;

于恒锐 .

中国专利 :CN215728703U ,2022-02-01

[10]

一种老化测试装置及断路器老化测试控制系统 [P].

魏首勋 ;

张志忠 ;

农钊民 .

中国专利 :CN221827021U ,2024-10-11

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