电子元件的检测方法及装置、存储介质、电子设备

被引：0

申请号：

CN202111652447.3

申请日：

2021-12-30

公开(公告)号：

CN114299036A

公开(公告)日：

2022-04-08

发明(设计)人：

宋雅奇沈云丁鹏薛裕颖李冬冬

申请人：

申请人地址：

100033 北京市西城区金融大街31号

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T711 G06T500 G06N304 G06N308

代理机构：

北京律智知识产权代理有限公司 11438

代理人：

王辉;阚梓瑄

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-04-08	公开	公开

共 50 条

[1]

电子元件的检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘萍华 .

中国专利 :CN115591817A ,2023-01-13

[2]

电子元件寿命预测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

黄忠山 .

中国专利 :CN115879359B ,2024-02-23

[3]

元件检测方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

徐振炀 ;

闫涛 ;

董鲁国 .

中国专利 :CN119728474A ,2025-03-28

[4]

电子元件的转移方法、存储介质及电子元件的转移设备 [P].

李召辉 ;

初宇天 ;

董恩凯 ;

翟明 ;

齐嘉城 ;

孙亮 ;

曹鹏军 .

中国专利 :CN115707349A ,2023-02-17

[5]

产品缺陷的检测方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

薛裕颖 ;

丁鹏 ;

沈云 ;

宋雅奇 ;

段惠斌 .

中国专利 :CN114359602B ,2025-02-21

[6]

产品缺陷的检测方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

薛裕颖 ;

丁鹏 ;

沈云 ;

宋雅奇 ;

段惠斌 .

中国专利 :CN114359602A ,2022-04-15

[7]

电子设备的检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张秀生 .

中国专利 :CN110243580A ,2019-09-17

[8]

元件异常检测方法、电子设备及存储介质 [P].

曾文彬 ;

张衡 ;

梁家睿 ;

朱恒 .

中国专利 :CN121095171A ,2025-12-09

[9]

产品检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

朱合军 ;

刘恩锋 ;

蔡毅泉 .

中国专利 :CN115631169A ,2023-01-20

[10]

缺陷检测方法及装置、电子设备、可读存储介质 [P].

程煜 ;

代明 ;

任亚恒 ;

赵航 ;

陈宏彩 ;

张伟平 .

中国专利 :CN118823513A ,2024-10-22

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